公开(公告)号：CN102725786A

公开(公告)日：2012-10-10

申请号：CN201080060396.9

申请日：2010-11-29

Applicant: 伊格尼斯创新公司

Inventor： G·查吉 ,  J·M·迪昂尼 ,  A·霍尔马蒂 ,  刘彤 ,  S·亚历山大

IPC: G09G3/22 ,  G09G3/32

CPC classification number: G09G3/006 ,  G01R31/44 ,  G09G3/3233 ,  G09G3/3283 ,  G09G2300/0842 ,  G09G2320/0233 ,  G09G2320/0285 ,  G09G2320/029 ,  G09G2320/0295 ,  G09G2320/043 ,  G09G2320/045

Abstract: 公开了用于提供用于显示装置的老化补偿的基准测量的方法和系统。示例显示系统具有多个有源像素和参考像素。公共的输入信号被提供给参考像素和多个有源像素。参考像素的输出被测量和与有源像素的输出相比以便确定老化影响。显示系统还可以通过施加第一已知参考电流给具有第二可变参考电流和被测器件（例如像素之一）的输出的电流比较器来被测试。可变参考电流被调节直到第二电流和被测器件的输出等于第一电流。结果得到的被测器件的电流被存储在用于显示系统操作期间的老化测量的基准的查找表中。显示系统还可以被测试以便通过确定像素组件（例如OLED和驱动晶体管）中的诸如短路之类的异常来确定制作瑕疵。