公开(公告)号：CN119131189A

公开(公告)日：2024-12-13

申请号：CN202411056500.7

申请日：2024-08-01

Applicant: 人工智能与数字经济广东省实验室(深圳)

Inventor： 张鑫 ,  马飞 ,  卓一瑶 ,  花霖

IPC: G06T11/60 ,  G06V40/16 ,  G06V10/82 ,  G06N3/0455 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/0475 ,  G06N3/08

Abstract: 本申请实施例适用于图像技术领域，提供了一种人脸编辑方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：提取待编辑人脸图像中的第一语义掩码和第二语义掩码；第一语义掩码包括多种语义属性分别对应的子掩码；第二语义掩码中不包括需编辑的目标语义属性对应的目标子掩码；将第一语义掩码、第二语义掩码以及目标语义属性对应的编辑要求，输入至掩码生成模型进行重绘，得到第三语义掩码；掩码生成模型用于基于第二语义掩码，在第三语义掩码中保留非目标语义属性对应的信息；基于第三语义掩码以及编辑要求，对待编辑人脸图像进行人脸编辑，得到已编辑人脸图像。采用上述方法，可以，提高人脸编辑的精细化程度和可控性。

公开(公告)号：CN117871545A

公开(公告)日：2024-04-12

申请号：CN202311803529.2

申请日：2023-12-25

Applicant: 人工智能与数字经济广东省实验室(深圳)

Inventor： 花霖 ,  于非 ,  尹东富 ,  蔡昊杰 ,  韩笑

IPC: G01N21/956 ,  G01N21/88

Abstract: 本申请适用于电子元器件技术领域，提供一种电路板元器件缺陷检测方法、装置、终端及存储介质，其中方法包括：获取第一电路板图像，所述第一电路板图像对应于待检测电路板，所述待检测电路板中包含多个待检测元器件；对所述第一电路板图像进行内容提取，得到第一元器件信息；确定与所述待检测电路板的相似度满足要求的参照电路板中的第二元器件信息；基于所述第一元器件信息及所述第二元器件信息对所述待检测元器件进行缺陷检测，得到检测结果。该方案解决了由于负样本数据采集周期长导致缺陷检测的检测准确度和检测效率降低的问题。

公开(公告)号：CN117058070A

公开(公告)日：2023-11-14

申请号：CN202310821362.6

申请日：2023-07-05

Applicant: 人工智能与数字经济广东省实验室(深圳) ,  深圳市国电科技通信有限公司

Inventor： 花霖 ,  王学良 ,  纪清 ,  程伦新 ,  尹东富 ,  于非

IPC: G06T7/00 ,  G01N21/88 ,  G06T7/30 ,  G06T5/00

Abstract: 本申请实施例适用于电路板技术领域，提供了一种基于三维机器视觉的电路板元器件检测方法和系统，所述方法包括：采集待检测的电路板的图像，所述图像包括所述电路板的二维图像和三维图像，所述二维图像和所述三维图像上均包括多个待检测的元器件；根据多个所述元器件，对所述二维图像和所述三维图像进行配准，得到配准后的深度图像；在配准后的所述深度图像中重建多个所述元器件的点云数据；基于所述点云数据，对所述电路板在高度维度上的缺陷进行检测。采用上述方法，可以基于三维机器视觉，自动检测电路板在高度维度上的缺陷，提高检测效率和检测精度。