天线组件及天线
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115799803A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202211485767.9

    申请日:2022-11-24

    Abstract: 本发明提供了一种天线组件及天线,所述天线组件包括:振子安装座,包括基座与固定在基座上的安装柱,所述安装柱的自由端形成安装台,所述安装台形成馈电插接槽,所述馈电插接槽通过走线通道连通至所述基座之外;具有第一辐射口径的第一振子,包括底座和支承在底座上的辐射臂,所述底座具有电连接至所述辐射臂的插接脚,所述插接脚插置于所述馈电插接槽中;具有第二辐射口径的第二振子,包括底座和支承在底座上的辐射臂,所述底座套入所述安装柱与所述基座相固定,所述第二辐射口径大于所述第一辐射口径。第一振子通过振子安装座安装于第二振子中,降低第一振子与第二振子之间的互耦,实现电隔离,提高第一振子与第二振子的辐射性能。

    TD-LTE天线合成波束测试装置

    公开(公告)号:CN111381110B

    公开(公告)日:2022-05-03

    申请号:CN201811640941.6

    申请日:2018-12-29

    Abstract: 本发明涉及一种TD‑LTE天线合成波束测试装置,包括多功分网络板、多个介质滑动组件及屏蔽外壳。介质滑动组件与分支路相应滑动设置,介质滑动组件包括第一介质滑动片与第二介质滑动片。第一介质滑动片与第二介质滑动片分别覆盖在多功分网络板上的分支路的两侧。介质滑动组件相对于多功分网络板滑动时,分支路被所述第一介质滑动片与第二介质滑动片所覆盖的区域面积大小能相应调整。屏蔽外壳设有屏蔽腔,多功分网络板与介质滑动组件均位于屏蔽腔内。上述的TD‑LTE天线合成波束测试装置,各个支路的输出相位均可以通过驱动与支路对应的介质滑动组件来进行调整,从而大大提升了TD‑LTE天线方向图的测试效率。

    多频天线
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107359415A

    公开(公告)日:2017-11-17

    申请号:CN201710427074.7

    申请日:2017-06-08

    Abstract: 本发明公开了一种多频天线,包括第一天线单元以及第二天线单元,所述第一天线单元包括第一辐射单元和第一底板,所述第一辐射单元设置于所述第一底板上,所述第二天线单元包括第二辐射单元、第二底板、馈电网络、同轴电缆和校准网络组件,所述第二辐射单元与所述馈电网络均设置于所述第二底板上,所述第二辐射单元与所述馈电网络连接,所述同轴电缆的一端与所述馈电网络连接,所述同轴电缆的另一端与所述校准网络组件连接,所述第二底板与所述第一底板绝缘连接。所述多频天线,不同频段的系统之间是独立的、绝缘的,进而能够减少不同频段的系统之间的相互干扰,使得天线具备较好的指标性能。

    多系统共体天线
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105244632B

    公开(公告)日:2019-04-26

    申请号:CN201510701196.1

    申请日:2015-10-22

    Abstract: 本发明公开了一种多系统共体天线,包括反射板、均设于反射板上并工作于不同系统的主天线阵列和次天线阵列,所述主天线阵列包括多个第一单元列,相邻两个第一单元列之间形成不小于自由空间中工作波长1/4的第一间距,每个第一单元列均包括多个第一辐射单元,且相邻两个第一辐射单元之间形成第二间距;所述次天线阵列包括至少一组第二辐射单元,并且所述第二辐射单元设于相邻两个所述第一单元列之间的第一间距和第二间距所形成的组合间隙中。由于次天线阵列的辐射单元被设置在主天线阵列的相邻两个第一单元列的间隙中,无需占用反射板上额外的安装空间,因而可以从长度和/或宽度上减小反射板的面积,有利于多系统共体天线的小型化。

    TD-LTE天线合成波束测试装置

    公开(公告)号:CN111381110A

    公开(公告)日:2020-07-07

    申请号:CN201811640941.6

    申请日:2018-12-29

    Abstract: 本发明涉及一种TD-LTE天线合成波束测试装置,包括多功分网络板、多个介质滑动组件及屏蔽外壳。介质滑动组件与分支路相应滑动设置,介质滑动组件包括第一介质滑动片与第二介质滑动片。第一介质滑动片与第二介质滑动片分别覆盖在多功分网络板上的分支路的两侧。介质滑动组件相对于多功分网络板滑动时,分支路被所述第一介质滑动片与第二介质滑动片所覆盖的区域面积大小能相应调整。屏蔽外壳设有屏蔽腔,多功分网络板与介质滑动组件均位于屏蔽腔内。上述的TD-LTE天线合成波束测试装置,各个支路的输出相位均可以通过驱动与支路对应的介质滑动组件来进行调整,从而大大提升了TD-LTE天线方向图的测试效率。

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