公开(公告)号：CN103927954A

公开(公告)日：2014-07-16

申请号：CN201410127150.9

申请日：2014-03-31

Applicant: 京东方科技集团股份有限公司

Inventor： 李延钊 ,  王刚 ,  方金钢 ,  赵会 ,  查奇君

IPC: G09G3/00

CPC classification number: G09G3/006 ,  G01J5/0066 ,  G01J5/10 ,  G01J2001/4247 ,  G01J2005/0081 ,  G01R31/02 ,  G09G3/32 ,  G09G2320/0295 ,  G09G2330/10 ,  G09G2360/147 ,  H01L51/0031

Abstract: 本发明提供一种OLED显示器件的测试方法及测试系统，该方法包括：对待测试的OLED显示器件施加测试信号；获取施加所述测试信号的所述OLED显示器件的测试区域的实测分布图像；将所述实测分布图像与对应的校准分布图像进行对比，得到一比对结果；根据所述比对结果确定所述测试区域是否存在背板异常点，当所述比对结果表示所述测试区域存在背板异常点时，确定所述背板异常点在所述OLED显示器件上的位置。本发明能够提高OLED显示器件的测试效率和测试直观度，降低测试成本。