公开(公告)号：CN104734792B

公开(公告)日：2017-07-25

申请号：CN201410817221.8

申请日：2014-12-24

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 高秋来 ,  李勇 ,  梁伟军 ,  黄辉

IPC: H04B17/309

Abstract: 本发明公开了混合双通道毫米波衰减测量方法及系统，本发明将两个基于音频替代法原理的单通道衰减测量系统有机地组合在一起构成混合双通道毫米波衰减测量系统，两个通道共用一个信号源，信号源和本振源共用一个参考信号，两个通道采用不同的倍频，当一个通道作为测量通道时，另一通道作为同步通道，测量通道输出的中频测量信号与同步通道输出的中频同步信号具有良好的相关性，减小了相位噪声以及相位慢漂的影响，测量统计不确定度小，且该系统中的两个通道不存在相互串扰问题，扩大了衰减量程。

公开(公告)号：CN106301231A

公开(公告)日：2017-01-04

申请号：CN201510239258.1

申请日：2015-05-12

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 高秋来 ,  李勇 ,  梁伟军 ,  黄辉

IPC: H03D7/16

Abstract: 本发明提供了一种本振相位噪声抵消方法及电路，该电路中包括两个混频器，其中第一混频器的射频输入端连接射频输入信号，第二混频器射频输入端接一负载，本振信号源分别与第一混频器和第二混频器的本振信号输入端连接，第一混频器和第二混频器的中频输出端分别接入相减器，通过相减器抵消第一混频器输出的中频信号中包含的本振相位噪声。本发明能够改善第一混频器输出信号的质量，提升小信号输入时混频器输出信号的线性度和灵敏度。

公开(公告)号：CN104734792A

公开(公告)日：2015-06-24

申请号：CN201410817221.8

申请日：2014-12-24

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 高秋来 ,  李勇 ,  梁伟军 ,  黄辉

IPC: H04B17/309

Abstract: 本发明公开了混合双通道毫米波衰减测量方法及系统，本发明将两个基于音频替代法原理的单通道衰减测量系统有机地组合在一起构成混合双通道毫米波衰减测量系统，两个通道共用一个信号源，信号源和本振源共用一个参考信号，两个通道采用不同的倍频，当一个通道作为测量通道时，另一通道作为同步通道，测量通道输出的中频测量信号与同步通道输出的中频同步信号具有良好的相关性，减小了相位噪声以及相位慢漂的影响，测量统计不确定度小，且该系统中的两个通道不存在相互串扰问题，扩大了衰减量程。

公开(公告)号：CN106301231B

公开(公告)日：2020-01-14

申请号：CN201510239258.1

申请日：2015-05-12

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 高秋来 ,  李勇 ,  梁伟军 ,  黄辉

IPC: H03D7/16

Abstract: 本发明提供了一种本振相位噪声抵消方法及电路，该电路中包括两个混频器，其中第一混频器的射频输入端连接射频输入信号，第二混频器射频输入端接一负载，本振信号源分别与第一混频器和第二混频器的本振信号输入端连接，第一混频器和第二混频器的中频输出端分别接入相减器，通过相减器抵消第一混频器输出的中频信号中包含的本振相位噪声。本发明能够改善第一混频器输出信号的质量，提升小信号输入时混频器输出信号的线性度和灵敏度。

公开(公告)号：CN104931785B

公开(公告)日：2017-12-01

申请号：CN201510268926.3

申请日：2015-05-24

Applicant: 北京工业大学 ,  中国计量科学研究院

Inventor： 朱江淼 ,  李超明 ,  刘欣萌 ,  缪京元 ,  黄辉 ,  杨智君

IPC: G01R27/02

Abstract: 一种基于众数法的PCB特性阻抗的测试方法，该方法在PCB特性阻抗测试区间上应用众数原理，将测试区间内的波形等幅度分为有限多个小区间。然后统计得到测试区间内的落入点数最多的某一小幅度区间，将这一小幅度区间内的数据进行平均得到精确的电压值。此方法不仅避免了波形畸变等极端数据的影响，同时在波形数据中多中取精、多中求稳，保证了很高的精度；本方法可以根据电压波形自动选取测试区间，消除了实际被测件不同长度的影响，从而提高了PCB特性阻抗工业测试的效率。

公开(公告)号：CN104931785A

公开(公告)日：2015-09-23

申请号：CN201510268926.3

申请日：2015-05-24

Applicant: 北京工业大学 ,  中国计量科学研究院

Inventor： 朱江淼 ,  李超明 ,  刘欣萌 ,  缪京元 ,  黄辉 ,  杨智君

IPC: G01R27/02

Abstract: 一种基于众数法的PCB特性阻抗的测试方法，该方法在PCB特性阻抗测试区间上应用众数原理，将测试区间内的波形等幅度分为有限多个小区间。然后统计得到测试区间内的落入点数最多的某一小幅度区间，将这一小幅度区间内的数据进行平均得到精确的电压值。此方法不仅避免了波形畸变等极端数据的影响，同时在波形数据中多中取精、多中求稳，保证了很高的精度；本方法可以根据电压波形自动选取测试区间，消除了实际被测件不同长度的影响，从而提高了PCB特性阻抗工业测试的效率。