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公开(公告)号：CN107643450A
公开(公告)日：2018-01-30
申请号：CN201710772731.1
申请日：2017-08-31
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供的低损低介电材料的测量方法及测量系统，利用射频或毫米波双通道衰减测量系统能够测量被测材料相移的优势，通过调整源反射系数和负载反射系数，使源反射系数和负载反射系数的一系列值分别形成一个等幅度的矢量圆，再通过求解圆心，计算出被测低损低介电材料的传输系数和反射系数，最终通过NRW(Nicolson–Ross–Weir)公式计算得到被测材料的介电系数和/或磁导率。本发明能够提高介电系数和磁导率测量结果的准确度。
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公开(公告)号：CN106301231B
公开(公告)日：2020-01-14
申请号：CN201510239258.1
申请日：2015-05-12
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: H03D7/16
Abstract: 本发明提供了一种本振相位噪声抵消方法及电路，该电路中包括两个混频器，其中第一混频器的射频输入端连接射频输入信号，第二混频器射频输入端接一负载，本振信号源分别与第一混频器和第二混频器的本振信号输入端连接，第一混频器和第二混频器的中频输出端分别接入相减器，通过相减器抵消第一混频器输出的中频信号中包含的本振相位噪声。本发明能够改善第一混频器输出信号的质量，提升小信号输入时混频器输出信号的线性度和灵敏度。
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公开(公告)号：CN107643450B
公开(公告)日：2019-11-26
申请号：CN201710772731.1
申请日：2017-08-31
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供的低损低介电材料的测量方法及测量系统，利用射频或毫米波双通道衰减测量系统能够测量被测材料相移的优势，通过调整源反射系数和负载反射系数，使源反射系数和负载反射系数的一系列值分别形成一个等幅度的矢量圆，再通过求解圆心，计算出被测低损低介电材料的传输系数和反射系数，最终通过NRW(Nicolson–Ross–Weir)公式计算得到被测材料的介电系数和/或磁导率。本发明能够提高介电系数和磁导率测量结果的准确度。
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公开(公告)号：CN119881029A
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202510049558.7
申请日：2025-01-13
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种覆铜板材料的微波介电常数与表界面电导率测量装置及方法，具体包括四端口矢量网络分析仪、准光开放式谐振腔、样品夹具以及一维位移台。该方法包括测量空腔及带样品状态下的谐振频率和品质因数，通过公式计算出样品的介电常数和电导率。同时，设定了参考纯铜平板样品及PCB覆铜板样品，进行多次谐振信息测定，结合装置特性，制定了计算覆铜界面电阻和电导率的方法。这一新颖的设计使得覆铜板材料的电性能测量更为精确和方便，有利于新型材料的研发和应用。
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公开(公告)号：CN117825808A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311863911.2
申请日：2023-12-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明公开一种基于开放式谐振腔的双频带材料介电特性测量装置，包括底座和间隔布置在底座上有两个不同波段的球面反射镜，两个所述球面反射镜之间构成双频带开放式的谐振腔，所述球面反射镜的波导法兰上设有频率扩展模块，频率扩展模块通过微波电缆连接矢量网络分析仪；在所述底座上且位于两个所述球面反射镜之间的部位设有滑动座，所述滑动座上设有处于谐振腔的夹具，当被测材料直接放置在夹具上时，谐振腔工作在双凹腔模式，当被测材料通过平面反射镜放置在夹具上时，谐振腔工作在平凹腔模式。本发明能够工作在双波导频段，在扩展测量频率范围的同时，可降低对材料厚度的苛刻要求，实现了材料介电常数实部和损耗正切的宽频准确测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113671273B
公开(公告)日：2023-04-11
申请号：CN202111004290.3
申请日：2021-08-30
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明公开了一种片上天线测量用探针馈电去嵌入方法，包括以下步骤：步骤一、采用探针馈电，得到探针和片上天线AOC的共同增益测量结果；步骤二、测量片上天线的空间插损参数和探针的散射参数；步骤三、对探针进行耦合去嵌入操作，从共同结果中将探针影响去除；步骤四、得到片上天线的准确增益修正值和端口反射系数。本发明具有以下技术效果：1、通过探针去嵌入方法，从共同结果中将探针影响去除，可以大幅度降低馈电探针影响，有效修正片上天线增益测量结果；2、相对于传统方法具有准确度高、普适性高的优点；3、解决了探针对于导波/空间场的耦合去嵌问题，对于提升片上天线测量准确度具有至关重要的意义。
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公开(公告)号：CN113268912A
公开(公告)日：2021-08-17
申请号：CN202110735476.X
申请日：2021-06-30
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G06F30/23
Abstract: 本发明属于微波无源器件领域，提供了一种分布式电阻衰减器的设计优化方法，本发明通过优化分布式电阻衰减器的端口反射系数以获得所需的薄膜电阻方阻值，以及根据目标衰减值模拟选择合适的薄膜电阻宽度。相较于现有技术中基于多种变量的情况下同时模拟仿真，本发明可单独分别通过优化分布式电阻衰减器的端口反射系数以获得所需的薄膜电阻方阻值，然后在目标方阻值一定的情况下根据目标衰减值选择合适的薄膜电阻宽度，简化了仿真难度，该分布式电阻衰减器设计优化方法有利于减小衰减器的物理尺寸，降低分布参数对衰减频率响应的影响，所设计的衰减器的工作频宽更宽，适用性更强。
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公开(公告)号：CN113671273A
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN202111004290.3
申请日：2021-08-30
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明公开了一种片上天线测量用探针馈电去嵌入方法，包括以下步骤：步骤一、采用探针馈电，得到探针和片上天线AOC的共同增益测量结果；步骤二、测量片上天线的空间插损参数和探针的散射参数；步骤三、对探针进行耦合去嵌入操作，从共同结果中将探针影响去除；步骤四、得到片上天线的准确增益修正值和端口反射系数。本发明具有以下技术效果：1、通过探针去嵌入方法，从共同结果中将探针影响去除，可以大幅度降低馈电探针影响，有效修正片上天线增益测量结果；2、相对于传统方法具有准确度高、普适性高的优点；3、解决了探针对于导波/空间场的耦合去嵌问题，对于提升片上天线测量准确度具有至关重要的意义。
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公开(公告)号：CN106405463B
公开(公告)日：2019-01-22
申请号：CN201610804858.2
申请日：2016-09-05
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种微波功率计中校准信号源反射系数测量方法，包括：根据信号源的反射系数、信号源传输至无反射负载的功率、负载的反射系数、信号源的反射系数的相角和负载的反射系数的相角得到负载入射功率的一般表达式；通过负载入射功率的一般表达式，并将信号源的反射系数的相角和负载的反射系数的相角之和调整第一预设角度、第二预设角度以得到负载输入功率的第一表达式、负载输入功率的第二表达式；联立负载入射功率的一般表达式、负载输入功率的第一表达式和负载输入功率的第二表达式得到信号源的反射系数。本发明具有如下优点：通过特定相移条件下校准源功率量值的测量确定其反射系数。
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公开(公告)号：CN104734792B
公开(公告)日：2017-07-25
申请号：CN201410817221.8
申请日：2014-12-24
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: H04B17/309
Abstract: 本发明公开了混合双通道毫米波衰减测量方法及系统，本发明将两个基于音频替代法原理的单通道衰减测量系统有机地组合在一起构成混合双通道毫米波衰减测量系统，两个通道共用一个信号源，信号源和本振源共用一个参考信号，两个通道采用不同的倍频，当一个通道作为测量通道时，另一通道作为同步通道，测量通道输出的中频测量信号与同步通道输出的中频同步信号具有良好的相关性，减小了相位噪声以及相位慢漂的影响，测量统计不确定度小，且该系统中的两个通道不存在相互串扰问题，扩大了衰减量程。
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