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公开(公告)号：CN111289785A
公开(公告)日：2020-06-16
申请号：CN202010210478.2
申请日：2020-03-23
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01R13/02
Abstract: 本发明涉及一种电光采样测量波形修正方法及系统，该方法包括：确定EOS系统测量波形的数学模型；采用高斯函数拟合出EOS系统测量波形中的主信号和反射信号；将最小二乘算法结合到高斯函数拟合过程中，拟合出最逼近EOS系统实际测量波形的曲线，得到EOS系统测量波形的最优控制参数；利用所述最优控制参数重构反射信号，并从EOS系统测量波形中扣除重构的反射信号，从而得到修正后的EOS系统测量波形。本发明提供的技术方案，通过构建反射信号波形，科学合理地修正了测量波形中主信号波形与反射信号波形的重合叠加问题，从EOS系统实际测量波形中有效恢复了被测主信号波形，有效解决了测量波形失真问题，进而实现了PD产生的高速脉冲波形参数的计量溯源。
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公开(公告)号：CN116633323B
公开(公告)日：2024-04-16
申请号：CN202310456843.1
申请日：2023-04-25
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开一种基于光电导技术高速数字采集系统响应特性校准方法，属于涉及高速数字信号处理技术领域；该方法包括：其特征在于，包括以下步骤：通过激光产生超快脉冲信号x(t)；通过高速数字采集系统测量超快脉冲信号x(t)，得到获得时域测量结果y(t)；根据超快脉冲信号x(t)和时域测量结果y(t)，解算出高速数字采集系统的频域响应特性H(jω)和时域响应特性；根据频域响应特性H(jω)和时域响应特性构成响应特性。本发明还包括一种基于光电导技术高速数字采集系统响应特性校准系统。本发明通过飞秒激光激励半导体材料产生超快脉冲信号，用于校准高速数字采集系统的响应特性，使其能够准确通过反卷积方法描述被测信号。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119044632A
公开(公告)日：2024-11-29
申请号：CN202411163150.4
申请日：2024-08-23
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于高温超导的太赫兹S参数测量系统，包括开关、射频源、定向耦合器、本振源、功分器、高温超导前端、低温低噪声放大器、微波接收器、信号处理器和显示器。其中高温超导前端可以对来自本振源和射频源的本振信号和射频信号进行混频，产生参考中频信号或被测中频信号，再经过低温低噪声放大器放大后进入微波接收器进行功率调节、下变频与采样等，最后由信号处理器处理得到S参数，由显示器显示出来。由于高温超导前端的转换增益和噪声性能比半导体前端优越很多，而低温低噪声放大器可以对信号功率放大，同时保持噪声性能基本不变，并抑制后续其他器件对测量系统噪声温度的贡献，从而实现低噪声温度的太赫兹S参数测量系统设计。
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公开(公告)号：CN118149881A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410267508.1
申请日：2024-03-08
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开一种相位‑频率响应校准过程中不确定度评定方法，属于光电探测技术领域；该方法包括：通过电光采样系统测量得到第一组时域波形；基于第一组时域波形的时间参数tj1和时间参数不确定度u，计算得到第二组时域波形的时间参数tj2；利用线性插值方法，计算得到第二组时域波形的幅度参数yj2；进行傅里叶变换，得到相位‑频率响应；基于若干相位‑频率响应利用贝塞尔公式，计算得到标准偏差，将各频率点对应的标准偏差作为相位‑频率响应校准过程中的不确定度。本发明还提供一种相位‑频率响应校准过程中不确定度评定系统。通过本发明能够分析、评定基于电光采样系统的光电探测器相位‑频率响应校准过程中位移延迟系统引入的不确定度。
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公开(公告)号：CN119164502A
公开(公告)日：2024-12-20
申请号：CN202411403783.8
申请日：2024-10-09
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开一种基于电光采样系统的光电探测器输出脉冲波形测量结果一致性评定方法，属于电光采样技术领域；该方法包括：获取若干组光电探测器输出脉冲波形；对脉冲波形的幅度进行归一化，并将脉冲波形的峰值幅度时刻对齐，得到归一化后脉冲波形；对归一化后脉冲波形进行预处理，得到预处理后脉冲波形；对预处理后脉冲波形进行幅度量一致性分析，得到幅度量一致性评定结果；对预处理后脉冲波形进行时间量一致性分析，得到时间量一致性评定结果。本发明能够准确分析、评定基于电光采样系统测得的光电探测器输出脉冲波形结果的一致性。
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公开(公告)号：CN116633323A
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202310456843.1
申请日：2023-04-25
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开一种基于光电导技术高速数字采集系统响应特性校准方法，属于涉及高速数字信号处理技术领域；该方法包括：其特征在于，包括以下步骤：通过激光产生超快脉冲信号x(t)；通过高速数字采集系统测量超快脉冲信号x(t)，得到获得时域测量结果y(t)；根据超快脉冲信号x(t)和时域测量结果y(t)，解算出高速数字采集系统的频域响应特性H(jω)和时域响应特性；根据频域响应特性H(jω)和时域响应特性构成响应特性。本发明还包括一种基于光电导技术高速数字采集系统响应特性校准系统。本发明通过飞秒激光激励半导体材料产生超快脉冲信号，用于校准高速数字采集系统的响应特性，使其能够准确通过反卷积方法描述被测信号。
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公开(公告)号：CN111289785B
公开(公告)日：2021-06-22
申请号：CN202010210478.2
申请日：2020-03-23
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01R13/02
Abstract: 本发明涉及一种电光采样测量波形修正方法及系统，该方法包括：确定EOS系统测量波形的数学模型；采用高斯函数拟合出EOS系统测量波形中的主信号和反射信号；将最小二乘算法结合到高斯函数拟合过程中，拟合出最逼近EOS系统实际测量波形的曲线，得到EOS系统测量波形的最优控制参数；利用所述最优控制参数重构反射信号，并从EOS系统测量波形中扣除重构的反射信号，从而得到修正后的EOS系统测量波形。本发明提供的技术方案，通过构建反射信号波形，科学合理地修正了测量波形中主信号波形与反射信号波形的重合叠加问题，从EOS系统实际测量波形中有效恢复了被测主信号波形，有效解决了测量波形失真问题，进而实现了PD产生的高速脉冲波形参数的计量溯源。
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