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公开(公告)号:CN119994636A
公开(公告)日:2025-05-13
申请号:CN202510467447.8
申请日:2025-04-15
Applicant: 中国计量科学研究院 , 深圳中国计量科学研究院技术创新研究院
IPC: H01S5/0687
Abstract: 本发明公开了一种同时实现双波长激光稳频的原子光谱稳频装置,针对现有激光稳频方法使用环境苛刻、装置复杂,且难以进一步小型化、集成化的问题,采用碱金属原子气室,在相互垂直的两个方向上同时实现原子饱和吸收光谱和电磁诱导透明光谱的探测,将里德堡原子制备所需的两束激光的频率参考在原子饱和吸收光谱和电磁诱导透明光谱上,同时实现两束激光的频率稳定,满足装置小型化、集成化需求,提升微波量子场强仪、里德堡原子接收机等仪器的集成化水平。
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公开(公告)号:CN111289785A
公开(公告)日:2020-06-16
申请号:CN202010210478.2
申请日:2020-03-23
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01R13/02
Abstract: 本发明涉及一种电光采样测量波形修正方法及系统,该方法包括:确定EOS系统测量波形的数学模型;采用高斯函数拟合出EOS系统测量波形中的主信号和反射信号;将最小二乘算法结合到高斯函数拟合过程中,拟合出最逼近EOS系统实际测量波形的曲线,得到EOS系统测量波形的最优控制参数;利用所述最优控制参数重构反射信号,并从EOS系统测量波形中扣除重构的反射信号,从而得到修正后的EOS系统测量波形。本发明提供的技术方案,通过构建反射信号波形,科学合理地修正了测量波形中主信号波形与反射信号波形的重合叠加问题,从EOS系统实际测量波形中有效恢复了被测主信号波形,有效解决了测量波形失真问题,进而实现了PD产生的高速脉冲波形参数的计量溯源。
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公开(公告)号:CN111289785B
公开(公告)日:2021-06-22
申请号:CN202010210478.2
申请日:2020-03-23
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01R13/02
Abstract: 本发明涉及一种电光采样测量波形修正方法及系统,该方法包括:确定EOS系统测量波形的数学模型;采用高斯函数拟合出EOS系统测量波形中的主信号和反射信号;将最小二乘算法结合到高斯函数拟合过程中,拟合出最逼近EOS系统实际测量波形的曲线,得到EOS系统测量波形的最优控制参数;利用所述最优控制参数重构反射信号,并从EOS系统测量波形中扣除重构的反射信号,从而得到修正后的EOS系统测量波形。本发明提供的技术方案,通过构建反射信号波形,科学合理地修正了测量波形中主信号波形与反射信号波形的重合叠加问题,从EOS系统实际测量波形中有效恢复了被测主信号波形,有效解决了测量波形失真问题,进而实现了PD产生的高速脉冲波形参数的计量溯源。
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