公开(公告)号：CN111856370B

公开(公告)日：2023-10-31

申请号：CN202010533473.3

申请日：2020-06-12

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 钟青 ,  王雪深 ,  李劲劲 ,  蔡裕谦 ,  徐达 ,  张明宇 ,  钟源 ,  曹文会

IPC: G01R35/00 ,  G01R33/035 ,  G05D23/30

Abstract: 本申请提供了一种超导器件测试探杆，包括：测试杆本体、导热样品台以及温度测控模组。所述测试杆本体具有一个测试端。所述导热样品台与所述测试端固定连接。所述温度测控模组固定于所述导热样品台。所述温度测控模组用于测量并控制所述导热样品台的温度。本申请将所述导热样品台固定于所述测试杆本体的测试端，并将所述温度测控模组固定于所述导热样品台，利用所述导热样品台的良好导热性能，使得所述温度测控模组通过测量并控制所述导热样品台的温度，实现对待测超导器件的精确控温，从而保障了所述待测超导器件的测试效果。

公开(公告)号：CN112162223B

公开(公告)日：2023-09-05

申请号：CN202010844399.7

申请日：2020-08-20

Applicant: 中国计量科学研究院 ,  清华大学

Inventor： 蔡裕谦 ,  王雪深 ,  钟青 ,  李劲劲 ,  姜开利

IPC: G01R33/035

Abstract: 本申请涉及一种SQUID器件电磁参数测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取电磁参数测试的配置信息，根据第一电磁参数的配置信息确定第一电磁参数的各个观测值；采集在第一电磁参数的各个观测值下对应的第二电磁参数的检测值；根据第一电磁参数的各个观测值及对应的第二电磁参数的检测值，确定所述第二电磁参数与第一电磁参数的变化关系，或者，根据第二电磁参数的检测值确定对应的第三电磁的检测值，根据第一电磁参数的各个观测值及对应的第三电磁参数的检测值，确定第三电磁参数与第一电磁参数的变化关系。通过本测试方法可以对SQUID器件进行温度控制、磁场调节，可以准确的监测到SQUID在低温超导态的周期震荡现象，且准确。

公开(公告)号：CN111856370A

公开(公告)日：2020-10-30

申请号：CN202010533473.3

申请日：2020-06-12

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 钟青 ,  王雪深 ,  李劲劲 ,  蔡裕谦 ,  徐达 ,  张明宇 ,  钟源 ,  曹文会

IPC: G01R35/00 ,  G01R33/035 ,  G05D23/30

Abstract: 本申请提供了一种超导器件测试探杆，包括：测试杆本体、导热样品台以及温度测控模组。所述测试杆本体具有一个测试端。所述导热样品台与所述测试端固定连接。所述温度测控模组固定于所述导热样品台。所述温度测控模组用于测量并控制所述导热样品台的温度。本申请将所述导热样品台固定于所述测试杆本体的测试端，并将所述温度测控模组固定于所述导热样品台，利用所述导热样品台的良好导热性能，使得所述温度测控模组通过测量并控制所述导热样品台的温度，实现对待测超导器件的精确控温，从而保障了所述待测超导器件的测试效果。

公开(公告)号：CN112162223A

公开(公告)日：2021-01-01

申请号：CN202010844399.7

申请日：2020-08-20

Applicant: 中国计量科学研究院 ,  清华大学

Inventor： 蔡裕谦 ,  王雪深 ,  钟青 ,  李劲劲 ,  姜开利

IPC: G01R33/035

Abstract: 本申请涉及一种SQUID器件电磁参数测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取电磁参数测试的配置信息，根据第一电磁参数的配置信息确定第一电磁参数的各个观测值；采集在第一电磁参数的各个观测值下对应的第二电磁参数的检测值；根据第一电磁参数的各个观测值及对应的第二电磁参数的检测值，确定所述第二电磁参数与第一电磁参数的变化关系，或者，根据第二电磁参数的检测值确定对应的第三电磁的检测值，根据第一电磁参数的各个观测值及对应的第三电磁参数的检测值，确定第三电磁参数与第一电磁参数的变化关系。通过本测试方法可以对SQUID器件进行温度控制、磁场调节，可以准确的监测到SQUID在低温超导态的周期震荡现象，且准确。