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公开(公告)号:CN108196294A
公开(公告)日:2018-06-22
申请号:CN201711428409.3
申请日:2017-12-26
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T1/185
Abstract: 本发明实施例涉及一种X射线空气衰减系数检测系统,检测系统包括:X光机,放置在光学平台上,用于发射X射线;抽真空装置,抽真空装置包括真空室、真空泵、真空规、真空测量仪、温度传感器和温控器;真空室的中心轴线与X光机的X射线出射口的中心相重合;真空室上开有抽真空口;真空泵通过连接管与真空室的抽真空口相连;真空规,设置在连接管与真空室之间,测量真空室内的真空度数值;真空测量仪,与真空规电性连接;温度传感器,设置在真空室与连接管的连接处,测量真空室内的温度数值;温控器,温控器与温度传感器电性连接;电离室,电离室的X射线入射口的中心与真空室的中心轴线相重合。本发明,实验操作简单,易于掌控。
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公开(公告)号:CN108226840A
公开(公告)日:2018-06-29
申请号:CN201711472222.3
申请日:2017-12-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明实施例涉及一种微弱电荷校准系统,校准系统包括:数字源表,用于输出电压信号;标准电容器,标准电容器的输入端与数字源表的输出端电性连接,用于隔绝输出电压信号中的直流电信号,输出第一电压信号;电阻器,电阻器的输入端与标准电容器的输出端相连,作为输入过载时的电压保护元件;静电计,静电计的输入端与电阻器的输出端电性连接,对第一电压信号进行电荷测量,得到输出电荷量;校准单元,确定校准因子,根据校准因子校准静电计的电荷档;干燥箱,容置标准电容器和电阻器。本发明,采用间接的测量方法,对小电流仪的电荷档进行测量和校准,同时解决了电容器等器件由于受潮引发的漏电问题。
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公开(公告)号:CN108195854A
公开(公告)日:2018-06-22
申请号:CN201711428433.7
申请日:2017-12-26
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N23/02
Abstract: 本发明实施例涉及一种X射线空气衰减系数检测方法,检测方法包括:A、调节X光机、真空管和电离室的位置;B、开启X光机,测得第一电离电流I1;C、测量并记录真空管内的温度值T1和气压值P1;D、通过真空泵对真空管进行抽真空作业;E、在真空管被抽真空的状态下,测得第二电离电流I2;F、测量并记录抽真空后的真空管的温度值T2和气压值P2;G、根据温度值T1、气压值P1、温度值T2和气压值P2,得到抽真空前后的真空管内的空气质量厚度的改变量Δdm;H、根据第一电离电流I1、第二电离电流I2和空气质量厚度的改变量Δdm,计算得到X射线空气衰减系数μm。本发明,采用抽真空法测量X射线空气衰减系数,操作简单,实验数据精准可靠。
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公开(公告)号:CN207600500U
公开(公告)日:2018-07-10
申请号:CN201721743310.8
申请日:2017-12-14
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01D11/30
Abstract: 本实用新型实施例涉及一种调节支架,包括:支撑台;调节底脚,置于支撑台底部,支撑杆,支撑杆的底端与支撑台相连接;固定夹位置调节装置,包括:调节固定杆,调节固定杆的一端固定连接于支撑杆上;调节固定杆上具有螺纹;高度调节杆,通过改变限位机构在调节固定杆上的位置来改变调节部的位置,从而调节支撑部在支撑杆上的位置;固定夹,设置于支撑部上,包括:固定夹本体,具有轴孔和定位槽,固定夹通过轴孔套接在支撑杆上;抱持部,抱持部设置并且通过螺纹连接于定位槽的一端。本实用新型实施例提供的调节支架能够对测量件的位置进行精准调节,同时防止调节支架由于配重失衡而翻倒。
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公开(公告)号:CN207600978U
公开(公告)日:2018-07-10
申请号:CN201721717632.5
申请日:2017-12-12
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N23/083 , G01B15/02
Abstract: 本实用新型实施例涉及一种半值层测量装置,包括:支撑部,顶部设有导轨,轨上具有滑块;调节部,包括座体、伸缩杆、调节手柄和台体;座体的底面安装于滑块上,使得调节部沿导轨运动;伸缩杆连接座体的上表面和台体的下表面,调节手柄驱动伸缩杆压缩或拉伸,从而调节台体与座体之间距离;光阑组件,置于台体上,包括屏蔽体和光阑;其中,屏蔽体上有插接孔,光阑的外边缘尺寸和插接孔相匹配,光阑插入插接孔中;吸收片支架,置于台体上,通过吸收片支架固定吸收片,使得吸收片和光阑的中心相对准。本实用新型实施例提供的半值层测量装置,通过增置光阑组件,将测量过程中的散射辐射的影响尽可能减小,实现半值层的精确测量。
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