公开(公告)号：CN108196294A

公开(公告)日：2018-06-22

申请号：CN201711428409.3

申请日：2017-12-26

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 吴金杰 ,  杜海燕 ,  刘莹 ,  王培玮

IPC: G01T1/185

Abstract: 本发明实施例涉及一种X射线空气衰减系数检测系统，检测系统包括：X光机，放置在光学平台上，用于发射X射线；抽真空装置，抽真空装置包括真空室、真空泵、真空规、真空测量仪、温度传感器和温控器；真空室的中心轴线与X光机的X射线出射口的中心相重合；真空室上开有抽真空口；真空泵通过连接管与真空室的抽真空口相连；真空规，设置在连接管与真空室之间，测量真空室内的真空度数值；真空测量仪，与真空规电性连接；温度传感器，设置在真空室与连接管的连接处，测量真空室内的温度数值；温控器，温控器与温度传感器电性连接；电离室，电离室的X射线入射口的中心与真空室的中心轴线相重合。本发明，实验操作简单，易于掌控。

公开(公告)号：CN108195854A

公开(公告)日：2018-06-22

申请号：CN201711428433.7

申请日：2017-12-26

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 吴金杰 ,  刘莹 ,  杜海燕 ,  赵瑞

IPC: G01N23/02

Abstract: 本发明实施例涉及一种X射线空气衰减系数检测方法，检测方法包括：A、调节X光机、真空管和电离室的位置；B、开启X光机，测得第一电离电流I1；C、测量并记录真空管内的温度值T1和气压值P1；D、通过真空泵对真空管进行抽真空作业；E、在真空管被抽真空的状态下，测得第二电离电流I2；F、测量并记录抽真空后的真空管的温度值T2和气压值P2；G、根据温度值T1、气压值P1、温度值T2和气压值P2，得到抽真空前后的真空管内的空气质量厚度的改变量Δdm；H、根据第一电离电流I1、第二电离电流I2和空气质量厚度的改变量Δdm，计算得到X射线空气衰减系数μm。本发明，采用抽真空法测量X射线空气衰减系数，操作简单，实验数据精准可靠。

公开(公告)号：CN108196292B

公开(公告)日：2019-07-02

申请号：CN201711472235.0

申请日：2017-12-29

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 吴金杰 ,  刘莹 ,  赵瑞 ,  康佳佳

IPC: G01T1/02

Abstract: 本发明实施例涉及一种测量装置，测量装置包括：支撑板，支撑板包括相互连接的限位板和底板；一级光阑，通过固定板固定连接在限位板上；一个或多个次级光阑，设置于一级光阑的一侧；一个或多个光阑调节装置，设置在底板上，每个光阑调节装置固定一个次级光阑；光阑调节装置包括水平调节部、竖直调节部和光阑固定支架；水平调节部设在底板上，用于调节次级光阑的水平位置；竖直调节部与水平调节部相连，用于调节次级光阑的竖直高度；光阑固定支架与竖直调节部相连，用于固定次级光阑。本发明，扩大了该测量装置的适用范围，根据实验的具体需要能够随时更换孔径大小相对应的光阑，实现高度可调，可快速对准多个光阑的孔径中心，调节简单，使用方便。

公开(公告)号：CN108196292A

公开(公告)日：2018-06-22

申请号：CN201711472235.0

申请日：2017-12-29

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 吴金杰 ,  刘莹 ,  赵瑞 ,  康佳佳

IPC: G01T1/02

CPC classification number: G01T1/02

Abstract: 本发明实施例涉及一种测量装置，测量装置包括：支撑板，支撑板包括相互连接的限位板和底板；一级光阑，通过固定板固定连接在限位板上；一个或多个次级光阑，设置于一级光阑的一侧；一个或多个光阑调节装置，设置在底板上，每个光阑调节装置固定一个次级光阑；光阑调节装置包括水平调节部、竖直调节部和光阑固定支架；水平调节部设在底板上，用于调节次级光阑的水平位置；竖直调节部与水平调节部相连，用于调节次级光阑的竖直高度；光阑固定支架与竖直调节部相连，用于固定次级光阑。本发明，扩大了该测量装置的适用范围，根据实验的具体需要能够随时更换孔径大小相对应的光阑，实现高度可调，可快速对准多个光阑的孔径中心，调节简单，使用方便。

公开(公告)号：CN108008334A

公开(公告)日：2018-05-08

申请号：CN201711469431.2

申请日：2017-12-29

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 吴金杰 ,  康佳佳 ,  王培玮 ,  刘莹

IPC: G01R35/00

Abstract: 本发明实施例涉及一种微弱电荷校准方法，方法包括：A、将数字源表、标准电容器、电阻器和静电计依次电性连接，并将标准电容器和电阻器放置于干燥箱中；B、由数字源表输出输出电压信号；C、输出电压信号通过标准电容器和电阻器进行隔直流处理；D、静电计采集隔直流处理后的电信号中的电荷，得到采集电荷量；E、根据标准电容器的电容值和输出电压信号的电压值计算得到实际电荷量；F、改变数字源表的输出电压，重复上述步骤B至步骤E，得到对应不同输出电压的多组采集电荷量和实际电荷量；G、根据多组采集电荷量和实际电荷量计算得到校准因子。本发明对小电流仪器的电荷档进行校准，排除了漏电、仪器受潮等方面因素的影响。

公开(公告)号：CN207600978U

公开(公告)日：2018-07-10

申请号：CN201721717632.5

申请日：2017-12-12

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 吴金杰 ,  杜海燕 ,  刘莹 ,  赵瑞

IPC: G01N23/083 ,  G01B15/02

Abstract: 本实用新型实施例涉及一种半值层测量装置，包括：支撑部，顶部设有导轨，轨上具有滑块；调节部，包括座体、伸缩杆、调节手柄和台体；座体的底面安装于滑块上，使得调节部沿导轨运动；伸缩杆连接座体的上表面和台体的下表面，调节手柄驱动伸缩杆压缩或拉伸，从而调节台体与座体之间距离；光阑组件，置于台体上，包括屏蔽体和光阑；其中，屏蔽体上有插接孔，光阑的外边缘尺寸和插接孔相匹配，光阑插入插接孔中；吸收片支架，置于台体上，通过吸收片支架固定吸收片，使得吸收片和光阑的中心相对准。本实用新型实施例提供的半值层测量装置，通过增置光阑组件，将测量过程中的散射辐射的影响尽可能减小，实现半值层的精确测量。