一种基于集成黑体法变飞行时间的材料发射率测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN114264375A

    公开(公告)日:2022-04-01

    申请号:CN202210003517.0

    申请日:2022-01-04

    Abstract: 本发明涉及一种基于集成黑体法变飞行时间的材料发射率测量装置及测量方法,其包括:密封壳,位于所述密封壳中的直线电机、推杆、待测样品和耐高温腔壁,其特征在于:所述直线电机用于提供连续可调的弹射速度;所述推杆用于连接直线电机和待测样品;所述耐高温腔壁的第一端和第二端为开口,所述耐高温腔壁的第一端开口和所述待测样品形成集成黑体;耐高温均温加热器,用于加热所述集成黑体;控温辐射温度计,其用于测量所述集成黑体的实时温度;光电高温计,其对待测样品在耐高温腔壁第一端口和第二端口的光谱辐射亮度进行测量。本装置相比于已有的集成黑体法,可外推获得飞行时间为零的结果,有效解决了待测样品飞行过程中温降无法准确测量的难题。

    一种零部件红外辐射强度系统及测量方法

    公开(公告)号:CN114034398A

    公开(公告)日:2022-02-11

    申请号:CN202111323030.2

    申请日:2021-11-09

    Abstract: 一种零部件红外辐射强度系统及测量方法,其包括:温度控制模块,用于待测样品的升温、降温和稳态温度场控制;主动式双激光测温模块,用于样品表面温度测量;红外成像模块,用于分析待测样品及其周围环境的热分布情况;红外辐射强度探测模块,用于直接测量待测样品的红外辐射强度;面源黑体,用于红外辐射强度探测模块响应度标定;信号采集与处理模块,用于收集测量信号并获得具体温度下的红外辐射强度;限制光阑,用于减少杂散光对辐射强度测量的影响。本系统可在不破坏零部件表面特性的条件下直接开展表面测温,红外成像模块也为红外辐射强度测量的结果分析提供了辅助手段,有利于获得稳定可靠的红外辐射强度测量结果。

    一种目标发射率分布特性测量装置

    公开(公告)号:CN114034391A

    公开(公告)日:2022-02-11

    申请号:CN202111323041.0

    申请日:2021-11-09

    Abstract: 本发明涉及一种目标发射率分布特性测量装置,其包括:激光发生器,用于产生准直的红外激光束;准直器,用于控制激光束的发散角;激光入射端,用于调整激光输入的空间位置;旋转套筒,用于固定激光入射端,并实现其360°转动;积分球体,用于实现入射激光的多次反射;样件放置端,用于安装待测样件;探测器,用于将收集到的光信号转换成电信号;二维移动平台,用于实现所述激光发生器和激光功率稳定器的二维移动;第一和第二控制器,分别用于控制二维移动平台和旋转套筒。本发明的装置可实现待测样件的发射率空间分布特性,同时有效避免环境杂散光对测温结果的影响。

    一种基于光通量倍增法的红外探测器非线性测量方法和测量装置

    公开(公告)号:CN111879418A

    公开(公告)日:2020-11-03

    申请号:CN202010771667.7

    申请日:2020-08-04

    Abstract: 本发明涉及一种基于光通量倍增法的红外探测器非线性测量装置和测量方法,测量装置包括光通量倍增光阑组、挡板、外置红外光学系统和标准红外辐射源。所述测量方法通过半开和全开光阑实现红外辐射源光通量的倍增,被测红外探测器测量获得在上述测量条件下红外辐射源的光通量,通过挡板测量并消除红外辐射源外部的杂散辐射,将上述红外探测器测量得到的输出信号基于光通量倍增法得到该红外探测器响应非线性,该测量方法具有在理论上严格满足探测器非线性原理的特点,实际操作便捷,可以精确、有效的获得红外探测器在宽亮度范围上响应的非线性特征。

    一种目标发射率分布特性测量装置

    公开(公告)号:CN114034391B

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN202111323041.0

    申请日:2021-11-09

    Abstract: 本发明涉及一种目标发射率分布特性测量装置,其包括:激光发生器,用于产生准直的红外激光束;准直器,用于控制激光束的发散角;激光入射端,用于调整激光输入的空间位置;旋转套筒,用于固定激光入射端,并实现其360°转动;积分球体,用于实现入射激光的多次反射;样件放置端,用于安装待测样件;探测器,用于将收集到的光信号转换成电信号;二维移动平台,用于实现所述激光发生器和激光功率稳定器的二维移动;第一和第二控制器,分别用于控制二维移动平台和旋转套筒。本发明的装置可实现待测样件的发射率空间分布特性,同时有效避免环境杂散光对测温结果的影响。

    一种零部件红外辐射强度系统及测量方法

    公开(公告)号:CN114034398B

    公开(公告)日:2023-11-03

    申请号:CN202111323030.2

    申请日:2021-11-09

    Abstract: 一种零部件红外辐射强度系统及测量方法,其包括:温度控制模块,用于待测样品的升温、降温和稳态温度场控制;主动式双激光测温模块,用于样品表面温度测量;红外成像模块,用于分析待测样品及其周围环境的热分布情况;红外辐射强度探测模块,用于直接测量待测样品的红外辐射强度;面源黑体,用于红外辐射强度探测模块响应度标定;信号采集与处理模块,用于收集测量信号并获得具体温度下的红外辐射强度;限制光阑,用于减少杂散光对辐射强度测量的影响。本系统可在不破坏零部件表面特性的条件下直接开展表面测温,红外成像模块也为红外辐射强度测量的结果分析提供了辅助手段,有利于获得稳定可靠的红外辐射强度测量结果。

    一种基于光通量倍增法的红外探测器非线性测量方法和测量装置

    公开(公告)号:CN111879418B

    公开(公告)日:2021-12-28

    申请号:CN202010771667.7

    申请日:2020-08-04

    Abstract: 本发明涉及一种基于光通量倍增法的红外探测器非线性测量装置和测量方法,测量装置包括光通量倍增光阑组、挡板、外置红外光学系统和标准红外辐射源。所述测量方法通过半开和全开光阑实现红外辐射源光通量的倍增,被测红外探测器测量获得在上述测量条件下红外辐射源的光通量,通过挡板测量并消除红外辐射源外部的杂散辐射,将上述红外探测器测量得到的输出信号基于光通量倍增法得到该红外探测器响应非线性,该测量方法具有在理论上严格满足探测器非线性原理的特点,实际操作便捷,可以精确、有效的获得红外探测器在宽亮度范围上响应的非线性特征。

    一种适合于零部件不同角度辐射强度测量的装置

    公开(公告)号:CN217605130U

    公开(公告)日:2022-10-18

    申请号:CN202123050249.8

    申请日:2021-12-07

    Abstract: 本实用新型涉及一种适合于零部件不同角度辐射强度测量的装置,其包括:加热器,用于待测样品的温度场控制;主动式双激光测温模块,用于样品表面温度测量;宽波段红外辐射计,用于测量待测样品的红外辐射强度;面源黑体,用于红外辐射计响应度标定;第一大行程移动平台,用于主动式双激光测温模块在水平和垂直方向的二维移动;第三大行程移动平台,用于红外辐射计的平面二维移动;旋转台,用于实现加热器的180°范围旋转;信号采集与处理模块,用于收集温度测量和红外辐射强度测量信号;限制光阑,用于减少杂散光对辐射强度测量的影响。本实用新型在不破坏零部件表面特性的情况下开展不同角度的红外辐射强度测量并通过非接触测温方法直接获得待测零件表面测温。

    一种具有光纤接口的滤光片探测系统

    公开(公告)号:CN214096381U

    公开(公告)日:2021-08-31

    申请号:CN202120199401.X

    申请日:2021-01-25

    Abstract: 本实用新型涉及一种具有光纤接口的滤光片探测系统,其包括:信号光纤,用于传递光信号;光快门,用于在特定的时间段内切断光信号,保护系统内部光电元件;凸透镜,用于将信号光纤端面出口的发散光信号收集;滤光片,用于获得单色光;可调光阑,用于调节光信号的输入能量;光电转化元件,用于将光信号转化成电信号;高吸收率壁面,用于吸收来自光电转化元件的反射光。本装置可有效避免环境杂散光以及光电转化元件自身反射光等因素对测温结果的影响,提高基于光热效应的温度测量精度。

    一种激光功率稳定性增强的目标发射率分布特性测量装置

    公开(公告)号:CN217006983U

    公开(公告)日:2022-07-19

    申请号:CN202123051491.7

    申请日:2021-12-07

    Abstract: 本实用新型涉及一种激光功率稳定性增强的目标发射率分布特性测量装置,其包括:激光发生器,用于产生准直的红外激光束;激光功率稳定器,用于抚平激光功率的波动性;斩波盘,用于调制激光频率;准直器,用于控制激光束的发散角;激光入射端,用于调整激光输入的空间位置;旋转套筒,用于固定激光入射端,并实现其360°转动;二维移动平台,用于实现所述激光发生器和激光功率稳定器的二维移动;第一和第二控制器,分别用于控制二维移动平台和旋转套筒;第三控制器,用于控制斩波盘转速,进而控制激光的调制频率。本实用新型的装置可在激光功率稳定性增强的条件下开展待测样件的发射率空间分布特性测量,同时有效避免环境杂散光对测温结果的影响。

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