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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119067357A
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202411047506.8
申请日：2024-08-01
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G06Q10/0631 , G06Q10/0635 , G06Q50/04 , G06F16/35
Abstract: 本发明涉及工业产品设计技术领域，提供一种工业产品可计量性设计方法、装置、电子设备及存储介质，其中方法包括：对合规要求文本进行文本分析，确定工业产品的多个定量需求；确定各定量需求的重要性、各定量需求的发生概率以及各定量需求的计量成本，对多个定量需求进行筛选，基于筛选得到的计量需求信息，对工业产品进行可计量性设计。本发明提供的工业产品可计量性设计方法、装置、电子设备及存储介质，通过从需求分析出发，完整的给出了工业产品计量需求分析方法，得到完整有效的计量需求，针对分析得到的需求给出了一套全流程的设计方法，填补了工业产品可计量性设计方法的空白，提升了后续对工业产品的计量检测的准确性和覆盖率。
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公开(公告)号：CN104931785B
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201510268926.3
申请日：2015-05-24
IPC: G01R27/02
Abstract: 一种基于众数法的PCB特性阻抗的测试方法，该方法在PCB特性阻抗测试区间上应用众数原理，将测试区间内的波形等幅度分为有限多个小区间。然后统计得到测试区间内的落入点数最多的某一小幅度区间，将这一小幅度区间内的数据进行平均得到精确的电压值。此方法不仅避免了波形畸变等极端数据的影响，同时在波形数据中多中取精、多中求稳，保证了很高的精度；本方法可以根据电压波形自动选取测试区间，消除了实际被测件不同长度的影响，从而提高了PCB特性阻抗工业测试的效率。
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公开(公告)号：CN104931785A
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201510268926.3
申请日：2015-05-24
IPC: G01R27/02
Abstract: 一种基于众数法的PCB特性阻抗的测试方法，该方法在PCB特性阻抗测试区间上应用众数原理，将测试区间内的波形等幅度分为有限多个小区间。然后统计得到测试区间内的落入点数最多的某一小幅度区间，将这一小幅度区间内的数据进行平均得到精确的电压值。此方法不仅避免了波形畸变等极端数据的影响，同时在波形数据中多中取精、多中求稳，保证了很高的精度；本方法可以根据电压波形自动选取测试区间，消除了实际被测件不同长度的影响，从而提高了PCB特性阻抗工业测试的效率。
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公开(公告)号：CN108152602B
公开(公告)日：2021-11-26
申请号：CN201711352483.1
申请日：2017-12-15
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明公开了一种基于量子相干效应的天线增益测量装置，该装置包括有电磁吸波室、原子气室、激光光源子系统、光谱信号测量子系统、功率测量子系统、天线增益测量子系统以及多个支撑平台。本发明装置通过光学器件来触发能量光谱，使原子诱发，通过光电探测获取能谱，采用吸波材料防止电磁散射体对测量造成影响，利用测量天线馈入净功率、定向耦合器耦合端口的净功率完成对探测光透射光谱数据采集；功率计与计算机通过GPIB总线连接，完成对天线馈入功率值的读取；通过天线增益测量模型完成增益测量。本发明装置相比传统天线测量系统，具有测量精度高、建设成本低、占地空间小等优点。
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公开(公告)号：CN108152602A
公开(公告)日：2018-06-12
申请号：CN201711352483.1
申请日：2017-12-15
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明公开了一种基于量子相干效应的天线增益测量装置，该装置包括有电磁吸波室、原子气室、激光光源子系统、光谱信号测量子系统、功率测量子系统、天线增益测量子系统以及多个支撑平台。本发明装置通过光学器件来触发能量光谱，使原子诱发，通过光电探测获取能谱，采用吸波材料防止电磁散射体对测量造成影响，利用测量天线馈入净功率、定向耦合器耦合端口的净功率完成对探测光透射光谱数据采集；功率计与计算机通过GPIB总线连接，完成对天线馈入功率值的读取；通过天线增益测量模型 完成增益测量。本发明装置相比传统天线测量系统，具有测量精度高、建设成本低、占地空间小等优点。
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