公开(公告)号：CN112631250B

公开(公告)日：2022-06-24

申请号：CN202011478933.3

申请日：2020-12-15

Applicant: 中国计量大学

Inventor： 金佩薇 ,  王浙超 ,  曾九孙 ,  姚燕 ,  蔡晋辉

IPC: G05B23/02

Abstract: 本发明公开了一种基于去噪自编码器的非线性过程中的故障隔离与识别方法。利用传感器采集训练数据和测试数据，在去噪自编码器残差空间和隐藏特征空间构建统计量；计算测试数据的过程监测统计量，当测试数据过程监测统计量超过过程监测统计量控制限，则出现故障；通过引入正则化项来建立目标函数，并基于自适应矩估计求解获得故障幅值，利用故障幅值判断各个传感器的故障，从而实现故障的隔离和识别。本发明能够满足工业过程中大规模过程故障诊断的速度和精度要求，为工业生产过程控制提供了可靠有效的技术支持。

公开(公告)号：CN112631250A

公开(公告)日：2021-04-09

申请号：CN202011478933.3

申请日：2020-12-15

Applicant: 中国计量大学

Inventor： 金佩薇 ,  王浙超 ,  曾九孙 ,  姚燕 ,  蔡晋辉

IPC: G05B23/02

Abstract: 本发明公开了一种基于去噪自编码器的非线性过程中的故障隔离与识别方法。利用传感器采集训练数据和测试数据，在去噪自编码器残差空间和隐藏特征空间构建统计量；计算测试数据的过程监测统计量，当测试数据过程监测统计量超过过程监测统计量控制限，则出现故障；通过引入正则化项来建立目标函数，并基于自适应矩估计求解获得故障幅值，利用故障幅值判断各个传感器的故障，从而实现故障的隔离和识别。本发明能够满足工业过程中大规模过程故障诊断的速度和精度要求，为工业生产过程控制提供了可靠有效的技术支持。