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公开(公告)号:CN115953304A
公开(公告)日:2023-04-11
申请号:CN202211096868.7
申请日:2023-03-07
Applicant: 中国计量大学
IPC: G06T5/00 , G06N3/0475 , G06N3/045 , G06N3/094
Abstract: 本发明涉及一种基于生成对抗网络的白光干涉端面复原欠采样解决方法,包括步骤:收集白光干涉欠采样数据,使用算法判断收集的欠采样数据中的异常数据,并对异常数据进行削减,使用WGAN网络对处理过的数据进行插值处理,最终使用拟合等多种方法,找到曲线最高点,对最高点进行处理,最终可得到该像素点相对高度,最后对结果进行评分。与往常方法相比,使用WGAN网络对欠采样的干涉曲线进行预处理的方式,既能保证拟合后的相对高度在一定范围内的稳定,使得复原出来的高度矩阵在应该局部平整的地方相对平滑,也能减少滤波过程中的重复性工作。