一种基于ks检验和WMW检验的新式白光干涉计算方法

    公开(公告)号:CN115661571A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211293804.6

    申请日:2022-10-21

    Abstract: 本发明提出了一种基于ks检验和WMW检验的新式白光干涉计算方法。新式的白光干涉方法使用理想过程中的二阶高斯函数仿真模型来替代传统白光干涉中的拟合过程寻找像素点干涉曲线的最高点,不再花费时间来拟合包络线,可大幅度减少工厂作业中白光干涉检测光纤连接器的时间。使用WMW秩和检验和ks检验从不同角度来判别出未知分布的噪声点,可减少人工识别的错误和成本,并提高判别的准确度,将噪声点的干涉曲线给神经网络进行训练,再使用训练完成的神经网络重新对干涉曲线进行识别。

    基于知识进化深度学习模型的激光与芯片对准系统

    公开(公告)号:CN114842263A

    公开(公告)日:2022-08-02

    申请号:CN202210535278.3

    申请日:2022-05-10

    Inventor: 倪军 丁若男

    Abstract: 本发明涉及基于知识进化深度学习模型的激光与芯片对准系统。本发明的创新点在于将Inception‑ResNetV2网络结构针对激光与芯片的校准检测要求,根据输入目标样本的特征和属性等信息,进行关于网络层次,网络结构深度和网络训练参数的优化,并采用知识进化训练方法得到的网络模型将目标样本分为五个类别,包括激光偏上,激光偏下,激光偏左,激光偏右和对准完成情况。将深度神经网络的分类结果与硬件平台结合完成高精度对准操作,并且针对采用深度神经网络的芯片校准结果利用图像处理与模板匹配技术,对分类结果做精度验证得到误差,并设计软件操作系统将对准与误差结果返回。

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