电子设备电磁辐射干扰预测试诊断系统及其方法

    公开(公告)号:CN101701986B

    公开(公告)日:2011-09-07

    申请号:CN200910272544.2

    申请日:2009-10-27

    Abstract: 本发明公开了电子设备电磁辐射干扰预测试诊断系统,其特征在于:它包括数据采集模块、干扰源诊断定位模块、环境噪声剔除模块和虚拟时频分析仪;所述的数据采集模块、干扰源诊断定位模块和环境噪声剔除模块分别与虚拟时频分析仪相联接,虚拟时频分析仪实现数据采集模块的驱动、干扰源诊断定位模块和环境噪声剔除模块的调用以及时域波形和频谱的监测显示。本发明还公开了电子设备电磁辐射干扰预测试诊断方法,利用LabView虚拟仪器平台和Matlab编程环境开发系统软件实现信号的预测试和诊断。本发明可在普通测试场地条件下进行电子设备电场辐射干扰的预测试诊断;自动化和便携化程度高,简单易用且降低了成本。

    腔体结构周围电磁环境强度的判别方法

    公开(公告)号:CN101819237A

    公开(公告)日:2010-09-01

    申请号:CN201010146093.0

    申请日:2010-04-08

    Abstract: 本发明提供了一种腔体结构周围电磁环境强度的判别方法,依照船舶设计方案,在商用电磁场仿真软件中建立船舶平台,依据电磁学理论根据辐射天线周围近远场关系式,构建了其与散射体和辐射天线的各项参数之间的相关性,从而初步判别出腔体在辐射天线工作频率的短波全频段范围内位于辐射天线的何种场区;若腔体一部分处于远场区、另一部分处于近场区,则再根据出现腔体电磁效应的频率,进一步判断此时腔体所处辐射天线的场区。本发明对强辐射源周围由敏感设备构成的腔体结构附近电磁环境强度进行预估,为敏感设备电磁安全性设计和电磁防护设计提供参考依据。

    短波天线辐射场强模型预测方法

    公开(公告)号:CN1952670A

    公开(公告)日:2007-04-25

    申请号:CN200610125063.5

    申请日:2006-11-17

    Abstract: 本发明涉及一种对大功率短波发射天线装载于复杂平台后产生的辐射场强进行模型预测的方法。该方法是根据实际短波天线和复杂平台的结构按1∶n的比例缩比模型;设置短波天线辐射场强模型预测测试系统,缩比模型的短波天线与短波天线辐射场强模型预测测试系统相接;用测试系统的射频信号源输出信号经过射频功率放大器放大后馈送至缩比模型的短波天线,采集场强测量仪测量的模型场强,用测试控制计算机中的数据处理模块软件,调用各组校准数据和模型场强数据,计算出实际天线的辐射场强。本发明在实验室低发射功率条件下,通过对测试系统的校准和对模型天线辐射场强数据的处理,可准确地预测大功率短波发射天线布置在复杂平台后产生的辐射场强。

    一种微波暗室性能测量系统

    公开(公告)号:CN103036629B

    公开(公告)日:2014-11-19

    申请号:CN201210553998.9

    申请日:2012-12-19

    Abstract: 本发明提供微波暗室性能测量系统,包括测试台架和控制设备,测试台架包括用于升降和旋转发射天线的发射天线台架,以及用于在三维空间内移动和旋转接收天线的接收天线台架;控制设备包括处理器、激光测距传感器、控制测试台架中各运动部件运动的步进电机、信号源和信号接收装置。采用本系统可以灵活地运用于微波暗室沿不同扫描轨迹进行测量,采用计算机自动控制、自动测量并自动存储测量数据,实现微波暗室静区反射率电平、交叉极化特性、多路径损耗均匀性、场均匀性性能指标的自动测量,提高了测量效率,测量准确度高。

    一种微波暗室性能测量方法

    公开(公告)号:CN103051399A

    公开(公告)日:2013-04-17

    申请号:CN201210554049.2

    申请日:2012-12-19

    Abstract: 本发明提供微波暗室性能测量方法,采用微波暗室性能测量系统,根据微波暗室性能分析试验的需要,设置所需测量的静区参数、测量频率、信号源功率、接收天线的扫描轨迹和运动速度、收发天线的旋转方向和旋转速度;根据信号源功率驱动信号源,根据接收天线的扫描轨迹和运动速度、及收发天线的旋转方向和旋转速度驱动各步进电机控制各运动部件运动,根据测量频率控制信号接收装置接收接收天线的信号并存储。采用本方法可以灵活地运用于微波暗室沿不同扫描轨迹进行测量;采用计算机实现微波暗室静区反射率电平、交叉极化特性、多路径损耗均匀性、场均匀性性能指标的自动测量,提高了测量效率。

    腔体结构周围电磁环境强度的判别方法

    公开(公告)号:CN101819237B

    公开(公告)日:2011-12-14

    申请号:CN201010146093.0

    申请日:2010-04-08

    Abstract: 本发明提供了一种腔体结构周围电磁环境强度的判别方法,依照船舶设计方案,在商用电磁场仿真软件中建立船舶平台,依据电磁学理论根据辐射天线周围近远场关系式,构建了其与散射体和辐射天线的各项参数之间的相关性,从而初步判别出腔体在辐射天线工作频率的短波全频段范围内位于辐射天线的何种场区;若腔体一部分处于远场区、另一部分处于近场区,则再根据出现腔体电磁效应的频率,进一步判断此时腔体所处辐射天线的场区。本发明对强辐射源周围由敏感设备构成的腔体结构附近电磁环境强度进行预估,为敏感设备电磁安全性设计和电磁防护设计提供参考依据。

    一种微波暗室性能测量方法

    公开(公告)号:CN103051399B

    公开(公告)日:2014-11-19

    申请号:CN201210554049.2

    申请日:2012-12-19

    Abstract: 本发明提供微波暗室性能测量方法,采用微波暗室性能测量系统,根据微波暗室性能分析试验的需要,设置所需测量的静区参数、测量频率、信号源功率、接收天线的扫描轨迹和运动速度、收发天线的旋转方向和旋转速度;根据信号源功率驱动信号源,根据接收天线的扫描轨迹和运动速度、及收发天线的旋转方向和旋转速度驱动各步进电机控制各运动部件运动,根据测量频率控制信号接收装置接收接收天线的信号并存储。采用本方法可以灵活地运用于微波暗室沿不同扫描轨迹进行测量;采用计算机实现微波暗室静区反射率电平、交叉极化特性、多路径损耗均匀性、场均匀性性能指标的自动测量,提高了测量效率。

    一种微波暗室性能测量系统

    公开(公告)号:CN103036629A

    公开(公告)日:2013-04-10

    申请号:CN201210553998.9

    申请日:2012-12-19

    Abstract: 本发明提供微波暗室性能测量系统,包括测试台架和控制设备,测试台架包括用于升降和旋转发射天线的发射天线台架,以及用于在三维空间内移动和旋转接收天线的接收天线台架;控制设备包括处理器、激光测距传感器、控制测试台架中各运动部件运动的步进电机、信号源和信号接收装置。采用本系统可以灵活地运用于微波暗室沿不同扫描轨迹进行测量,采用计算机自动控制、自动测量并自动存储测量数据,实现微波暗室静区反射率电平、交叉极化特性、多路径损耗均匀性、场均匀性性能指标的自动测量,提高了测量效率,测量准确度高。

    电子设备电磁辐射干扰预测试诊断系统及其方法

    公开(公告)号:CN101701986A

    公开(公告)日:2010-05-05

    申请号:CN200910272544.2

    申请日:2009-10-27

    Abstract: 本发明公开了电子设备电磁辐射干扰预测试诊断系统,其特征在于:它包括数据采集模块、干扰源诊断定位模块、环境噪声剔除模块和虚拟时频分析仪;所述的数据采集模块、干扰源诊断定位模块和环境噪声剔除模块分别与虚拟时频分析仪相联接,虚拟时频分析仪实现数据采集模块的驱动、干扰源诊断定位模块和环境噪声剔除模块的调用以及时域波形和频谱的监测显示。本发明还公开了电子设备电磁辐射干扰预测试诊断方法,利用LabView虚拟仪器平台和Matlab编程环境开发系统软件实现信号的预测试和诊断。本发明可在普通测试场地条件下进行电子设备电场辐射干扰的预测试诊断;自动化和便携化程度高,简单易用且降低了成本。

    短波天线辐射场强模型预测方法

    公开(公告)号:CN100562752C

    公开(公告)日:2009-11-25

    申请号:CN200610125063.5

    申请日:2006-11-17

    Abstract: 本发明涉及一种对大功率短波发射天线装载于复杂平台后产生的辐射场强进行模型预测的方法。该方法是根据实际短波天线和复杂平台的结构按1∶n的比例缩比模型;设置短波天线辐射场强模型预测测试系统,缩比模型的短波天线与短波天线辐射场强模型预测测试系统相接;用测试系统的射频信号源输出信号经过射频功率放大器放大后馈送至缩比模型的短波天线,采集场强测量仪测量的模型场强,用测试控制计算机中的数据处理模块软件,调用各组校准数据和模型场强数据,计算出实际天线的辐射场强。本发明在实验室低发射功率条件下,通过对测试系统的校准和对模型天线辐射场强数据的处理,可准确地预测大功率短波发射天线布置在复杂平台后产生的辐射场强。

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