公开(公告)号：CN103036629A

公开(公告)日：2013-04-10

申请号：CN201210553998.9

申请日：2012-12-19

Applicant: 中国舰船研究设计中心

Inventor： 郑生全 ,  黄琼 ,  朱传焕 ,  蒋炎坤 ,  朱涛 ,  黄松高

IPC: H04B17/00

Abstract: 本发明提供微波暗室性能测量系统，包括测试台架和控制设备，测试台架包括用于升降和旋转发射天线的发射天线台架，以及用于在三维空间内移动和旋转接收天线的接收天线台架；控制设备包括处理器、激光测距传感器、控制测试台架中各运动部件运动的步进电机、信号源和信号接收装置。采用本系统可以灵活地运用于微波暗室沿不同扫描轨迹进行测量，采用计算机自动控制、自动测量并自动存储测量数据，实现微波暗室静区反射率电平、交叉极化特性、多路径损耗均匀性、场均匀性性能指标的自动测量，提高了测量效率，测量准确度高。

公开(公告)号：CN103036629B

公开(公告)日：2014-11-19

申请号：CN201210553998.9

申请日：2012-12-19

Applicant: 中国舰船研究设计中心

Inventor： 郑生全 ,  黄琼 ,  朱传焕 ,  蒋炎坤 ,  朱涛 ,  黄松高

IPC: H04B17/00

Abstract: 本发明提供微波暗室性能测量系统，包括测试台架和控制设备，测试台架包括用于升降和旋转发射天线的发射天线台架，以及用于在三维空间内移动和旋转接收天线的接收天线台架；控制设备包括处理器、激光测距传感器、控制测试台架中各运动部件运动的步进电机、信号源和信号接收装置。采用本系统可以灵活地运用于微波暗室沿不同扫描轨迹进行测量，采用计算机自动控制、自动测量并自动存储测量数据，实现微波暗室静区反射率电平、交叉极化特性、多路径损耗均匀性、场均匀性性能指标的自动测量，提高了测量效率，测量准确度高。