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公开(公告)号：CN110095486B
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：CN201910378043.6
申请日：2019-05-08
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N23/203 , G01N23/20
Abstract: 本发明的目的是提供一种快速呈现多晶材料特定晶面分布特征的方法。此方法高效率、低成本、操作简单，而且能够准确的呈现多晶材料内部多个特定晶面取向特征。本发明主要包括EBSD样品的制备、电子背散射衍射分析技术采集样品表面信息、数据处理以及特定晶面呈现等步骤；本发明可以用于特定晶面特征下的晶粒尺寸、分布以及取向关系研究，如研究合金材料在热处理和热加工过程中存在的取向遗传现象；其次，可用于探究材料的抗氧化、抗腐蚀性能与材料表面特定晶面分布特征的联系；另外，也可以定量研究材料中不同晶面以及多种特定晶面对于材料性能的共同作用，以指导实际成产中制定合理热处理及加工工艺，进而充分发挥或者改善材料的服役性能。
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公开(公告)号：CN111175325A
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN202010145648.3
申请日：2020-03-05
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N23/2005
Abstract: 一种制备薄壁管材压平测织构试样的方法及专用装置，所述方法包括先将承载件水平放置，在承载件上放置调节件，在长方形凹槽上放置薄壁管材试样；其次，在长方形凹槽上放置施压件，施压端紧贴薄壁管材试样；再次，施压件、承载件和调节件整体保持为长方体结构，再在外层用铜导电胶将它们固定在一起；最后，为保证薄壁管材试样压平前后厚度一致，整个压平过程在Gleeble热模拟试验机上进行，以精确设置和控制温度、应变量、应变速率等条件。本发明具有结构简单、功能多样、易于操作、成本低和适用性广等优点，其技术方案规范合理，技术效果优良，具有可预期的较为巨大的经济价值和社会价值。
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公开(公告)号：CN110940686A
公开(公告)日：2020-03-31
申请号：CN201911126572.3
申请日：2019-11-18
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N23/2005 , G01N23/20058 , G01N23/203 , G01N23/2202 , G01N23/2206 , G01N3/40 , G01N1/28 , G01N1/32
Abstract: 通过EBSD技术和维氏硬度计来计算孪晶的临界分切应力的方法。该方法主要通过对不同载荷的维氏硬度压痕几何分析计算，结合EBSD标定晶体取向和孪晶的功能，最终获得孪晶的临界分切应力。该方法计算过程如下步骤：先制备EBSD块状样品，通过化学擦拭腐蚀或者机械振动抛光保证样品表面的平整度；在金相显微镜和EBSD测定样品某一区域，并且用维氏硬度标记位置；然后通过不同载荷的维氏硬度对该区域进行硬度测试，直至某一载荷下，硬度压痕旁边出现孪晶，并且记录硬度压痕的对角线大小以及硬度数值；接着用EBSD标定这种孪晶的类型，最后通过该载荷下的硬度压痕几何分析计算结合Schmid因子计算，进而获得孪晶的临界分切应力。
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公开(公告)号：CN110487825A
公开(公告)日：2019-11-22
申请号：CN201910708144.5
申请日：2019-08-01
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明的目的在于提供一种确定TEM观察锆合金中FCC-Zr相最佳方向的复合衍射法。首先根据两相之间可能存在的位向关系，采用矩阵运算获得FCC-Zr与基体之间晶面指数以及晶向指数之间的对应关系；然后利用晶体学软件Crystal Marker等模拟在任意方向入射电子束下的两相复合斑点衍射谱；最后通过对比不同入射方向下的两相复合衍射谱，相应低指数晶向和晶面指数对应的电子束入射方向，即是观察FCC-Zr相的最佳方向。此发明方法可以准确找到观察锆合金中纳米尺寸FCC-Zr相最佳电子束入射方向，对于FCC-Zr晶体学研究具有重要的意义。
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公开(公告)号：CN106890857A
公开(公告)日：2017-06-27
申请号：CN201710213886.1
申请日：2017-04-01
Applicant: 中国科学院金属研究所
CPC classification number: B21B38/00 , B21B38/08 , B21B2038/002
Abstract: 一种精确测试冷轧管机轧制过程中轧制力与轴向力的方法，其使用专用测试装置配套轧管机，对被轧制加工的芯棒(1)进行轧制力与轴向力测试；专用测试装置构成如下：芯棒轴向力测试传感器(5)、轧制管坯轴向力测试传感器(6)、轧制力测试传感器(7)、信号采集装置；测试方法是：在轧制过程中分别采集芯棒(1)与管坯(2)沿管坯轴向所受到的力，据此测得芯棒轴向力测试传感器(5)和轧制管坯轴向力测试传感器(6)的信号；同时采集轧管机的轧辊(3)沿管坯径向所受到的力，据此测得芯棒轴向力测试传感器(7)的信号。之后分析计算得到待测的冷轧管机轧制过程中的轧制力与轴向力。本发明可操作性强，技术效果优良，工程应用前景巨大。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103558218B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201310525910.7
申请日：2013-10-29
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N21/84
Abstract: 测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法，其步骤依次是：制备金相样品并进行金相观察；通过金相分析得到视场内每个第二相的几何中心坐标(Xi，Yi)，并将每一个坐标值保存到文本文件中；进行第二相均匀性测定：测定视场内所有第二相颗粒在二维平面内的平均最近邻、次最近邻的间距和对应标准偏差σt，并将平均最近邻、次最近邻的间距和对应标准偏差σt随试样位置变化绘成曲线图，通过曲线图直观反映第二相均匀性情况及随试样位置的变化。本发明把基体中第二相信息与数学方法相结合，其操作简单、结果准确可靠，适用于数目较多时的数据统计。其具有较大的经济价值和社会价值。
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公开(公告)号：CN112611661B
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202011370476.6
申请日：2020-11-30
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N3/42 , G01N3/06 , G01N23/20 , G01N23/20058 , G01N23/203 , G01N23/20008 , G01N23/2251
Abstract: 一种判断滑移类型的方法，具体为：先制备EBSD块状样品，通过EBSD标定晶体取向，并使用不同载荷的维氏硬度压头对EBSD测定的晶粒进行原位压缩；由于压缩变形后该取向晶粒就会发生变形，进而在晶粒的表面形成滑移线；对要测定区域的不同晶粒进行硬度测试，结合压痕的几何应力分析，计算不同滑移开动时的Schmid因子值；然后通过滑移线和三维晶体结构进行对比，结合位错滑移线的传播方向，所计算的不同滑移系的Schmid因子值以及滑移线之间相互交叉的角度，初步判断滑移类型；最后在扫描电镜上，通过倾转扫描样品台，记录不同角度倾转时滑移台阶的宽度变化，结合EBSD测定的晶体取向，获得理论上不同滑移类型的台阶宽度变化，然后与实验结果相对比，综合判断出滑移类型。
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公开(公告)号：CN109900727B
公开(公告)日：2021-11-09
申请号：CN201910202346.2
申请日：2019-03-18
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N23/203 , G01N23/2005
Abstract: 本发明旨在提供一种通用的金属材料EBSD样品制备的电解抛光方法，以提高合金EBSD试样制备的质量、效率以及稳定性。该方法首先对电解样品进行前期预处理，然后配制仅含有高氯酸和无水乙醇的电解抛光液，最后以不锈钢片为阴极，以所需电解抛光的样品为阳极，在低温和弱电流下进行电解抛光。该方法不仅设备简单，实用性强，操作简便，而且适用于各种金属材料EBSD样品制备，在制备过程中不需要调试电解抛光参数，试验重复性高，样品制备效果好，具有较好的经济效益和推广价值。
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公开(公告)号：CN112577984A
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN202011236327.0
申请日：2020-11-09
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N23/2202 , G01N23/20008
Abstract: 本发明属于块状样品制备方法领域，特别涉及一种观察锆合金变形行为的块状样品制备方法，具体步骤依次为：制作两个块状样品、研磨、电解抛光、两个块状样品粘黏、热镶嵌、维氏硬度载荷加载、清洗、扫描分析。本发明制备方法操作简单，并且可以在同一样品上开展多种晶体取向的锆合金的三维变形特征研究工作，减少了反复制样的麻烦。采用本发明方法，可以同时获得维氏硬度压痕附近以及压痕尖端下方的锆合金的变形特征，可以直接根据变形特征确定压痕作用下的锆合金受力状态，并构建三维空间的锆合金变形特征，为研究锆合金的变形行为提供了便利。
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公开(公告)号：CN112577797A
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN202011236377.9
申请日：2020-11-09
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N1/28 , G01N1/32 , G01N23/20008
Abstract: 本发明涉及一种透射电镜观察分析样品的制备方法，具体地指一种用于透射电镜原位观察位错滑移迹线的样品制备方法，具体步骤为：样品切割与处理；表面抛光；维氏硬度加载；减薄及后续观察分析。本发明试样的制备相对简单，不需要高精密的仪器设备；采用本发明方法，可以准确确定加载力的方向和大小，原位确定压痕附近的滑移迹线的特征；借助透射电镜不仅可以观察位错滑移迹线特征，而且通过压痕定位达到原位观察分析材料在外加载荷作用下位错滑移迹线特征，从而达到原位研究材料的微观变形的目的。
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