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公开(公告)号：CN103558218B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201310525910.7
申请日：2013-10-29
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N21/84
Abstract: 测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法，其步骤依次是：制备金相样品并进行金相观察；通过金相分析得到视场内每个第二相的几何中心坐标(Xi，Yi)，并将每一个坐标值保存到文本文件中；进行第二相均匀性测定：测定视场内所有第二相颗粒在二维平面内的平均最近邻、次最近邻的间距和对应标准偏差σt，并将平均最近邻、次最近邻的间距和对应标准偏差σt随试样位置变化绘成曲线图，通过曲线图直观反映第二相均匀性情况及随试样位置的变化。本发明把基体中第二相信息与数学方法相结合，其操作简单、结果准确可靠，适用于数目较多时的数据统计。其具有较大的经济价值和社会价值。
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公开(公告)号：CN103558218A
公开(公告)日：2014-02-05
申请号：CN201310525910.7
申请日：2013-10-29
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N21/84
Abstract: 测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法，其步骤依次是：制备金相样品并进行金相观察；通过金相分析得到视场内每个第二相的几何中心坐标（X Y），并将每一个坐标值保存到文本文件中；进行第二相均匀性测定：测定视场内所有第二相颗粒在二维平面内的平均最近邻、次最近邻的定义间距和对应标准偏差σt，并将平均最近邻、次最近邻的定义间距和对应标准偏差σt随试样位置变化绘成曲线图，通过曲线图直观反映第二相均匀性情况及随试样位置的变化。本发明把基体中第二相信息与数学方法相结合，其操作简单、结果准确可靠，适用于数目较多时的数据统计。其具有较大的经济价值和社会价值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105445185A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201410428916.7
申请日：2014-08-28
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N21/00
Abstract: 精确测定材料中偏聚第二相分布均匀性的方法；其将第二相抽象成质量集中于中心的质点；然后借助于数学方法定量的将第二相在基体中的均匀性程度具体化，数值化；然后将数学方法编写成程序，使用者只需要在终端输入坐标数据，直接可以得到均匀性结果；最终使用者将所得结果汇总一起，整理成图表。本发明克服了现有利用半定量的方法来分析金相和大量的统计工作，在随机分布第二相统计方法的基础上，针对具有偏聚或分布具有方向性第二相在基体中分布均匀性问题，提出一种新方法能够定量的表征偏聚第二相在基体中分布均匀性。具有更客观、简便、准确的特点，并且对金相视场的颗粒数目没有限制。
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公开(公告)号：CN109187607A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201811091058.6
申请日：2018-09-19
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N23/207
Abstract: 本发明的目的在于提供一种X射线衍射分析技术测试锆合金中科恩系数的方法，具体步骤为：(1)制样，取样测试面与轧制面平行，并标记好样品的方向；(2)将切割好的样品进行磨光；(3)机械抛光，达到表面产生镜面效果为止；(4)清洗样品并干燥；(5)采用X射线衍射分析技术观察，得到样品的X射线衍射极图；(6)根据样品的X射线衍射极图获得相应方位对应的衍射强度值，通过积分得到三个方向上的基面科恩系数。此方法测试速度快，可以在已有锆合金标样的情况下，测试得到材料宏观区域的科恩系数，解决了目前EBSD技术只能表征材料微区晶粒取向的问题。
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公开(公告)号：CN105445185B
公开(公告)日：2018-09-04
申请号：CN201410428916.7
申请日：2014-08-28
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N21/00
Abstract: 精确测定材料中偏聚第二相分布均匀性的方法；其将第二相抽象成质量集中于中心的质点；然后借助于数学方法定量的将第二相在基体中的均匀性程度具体化，数值化；然后将数学方法编写成程序，使用者只需要在终端输入坐标数据，直接可以得到均匀性结果；最终使用者将所得结果汇总一起，整理成图表。本发明克服了现有利用半定量的方法来分析金相和大量的统计工作，在随机分布第二相统计方法的基础上，针对具有偏聚或分布具有方向性第二相在基体中分布均匀性问题，提出一种新方法能够定量的表征偏聚第二相在基体中分布均匀性。具有更客观、简便、准确的特点，并且对金相视场的颗粒数目没有限制。
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公开(公告)号：CN102928449B
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201210401270.4
申请日：2012-10-19
Applicant: 国核宝钛锆业股份公司 , 中国科学院金属研究所
IPC: G01N23/203 , G01N1/32
Abstract: 本发明公开了电子背散射衍射分析技术测试锆合金中科恩系数的方法，通过制样、磨光、电解抛光、洗净后采用电子背散射衍射分析技术观察，通过单次测试标定率>90%，计算得到锆合金样品科恩系数。本发明测试速度快，处理简单，一次测试可获得三个方向的科恩系数，解决了无锆合金标样测试锆合金科恩系数的问题。
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公开(公告)号：CN102928449A
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：CN201210401270.4
申请日：2012-10-19
Applicant: 国核宝钛锆业股份公司 , 中国科学院金属研究所
IPC: G01N23/203 , G01N1/32
Abstract: 本发明公开了电子背散射衍射分析技术测试锆合金中科恩系数的方法，通过制样、磨光、电解抛光、洗净后采用电子背散射衍射分析技术观察，通过单次测试标定率>90%，计算得到锆合金样品科恩系数。本发明测试速度快，处理简单，一次测试可获得三个方向的科恩系数，解决了无锆合金标样测试锆合金科恩系数的问题。
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