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公开(公告)号：CN1688022A
公开(公告)日：2005-10-26
申请号：CN200510056344.5
申请日：2005-03-18
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明涉及集成电路设计验证领域，特别是一种寄存器传输级可观测性覆盖分析与激励生成方法。通过增强型进程控制树、控制－观测链等数据模型表征可观测性信息，在此基础上，通过对设计电路动态执行过程中，每个观测点的控制－观测链的确定与回退，分析语句与变量的可观测性，得到可观测性语句覆盖率，并且利用得到的可观测性信息指导激励生成。本发明解决了目前已有的可观测性覆盖评估方法复杂度高以及在激励生成过程中不考虑可观测性的问题。生成。本发明可用于在模拟过程中计算代码的可观测性语句覆盖率，进而更确切地评估验证的力度，也可以用于在激励生成过程中以可观测性覆盖信息为指导，提高激励的质量。
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公开(公告)号：CN1319150C
公开(公告)日：2007-05-30
申请号：CN200510056344.5
申请日：2005-03-18
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明涉及集成电路设计验证领域，特别是一种寄存器传输级可观测性覆盖分析与激励生成方法。通过增强型进程控制树、控制-观测链等数据模型表征可观测性信息，在此基础上，通过对设计电路动态执行过程中，每个观测点的控制-观测链的确定与回退，分析语句与变量的可观测性，得到可观测性语句覆盖率，并且利用得到的可观测性信息指导激励生成。本发明解决了目前已有的可观测性覆盖评估方法复杂度高以及在激励生成过程中不考虑可观测性的问题。生成。本发明可用于在模拟过程中计算代码的可观测性语句覆盖率，进而更确切地评估验证的力度，也可以用于在激励生成过程中以可观测性覆盖信息为指导，提高激励的质量。
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