一种使用快照的可调试性设计追踪方法及装置

    公开(公告)号:CN107066707B

    公开(公告)日:2019-07-30

    申请号:CN201710188024.8

    申请日:2017-03-27

    Abstract: 本发明提出一种使用快照的可调试性设计追踪方法及装置,涉及集成电路可调试性设计技术领域,该方法包括步骤1,设置追踪缓存与快照缓存的容量,确定追踪信号的宽度限制与快照信号的宽度限制;步骤2,根据所述追踪信号与所述快照信号的宽度限制,生成寄存器簇并迭代选择寄存器簇,从而确定所述追踪信号与所述快照信号;步骤3,根据所述追踪信号与所述快照信号,设置追踪结构,其中所述追踪结构包括追踪控制器、触发器、追踪总线、追踪缓存、快照缓存。本发明可以显著的提高调试数据的状态恢复率,增加硅后调试的可观测性,缩短硅后调试时间;本发明可以确定性的恢复关键信号;本发明可以减少追踪信号选择方法的运行时间。

    一种使用快照的可调试性设计追踪方法及装置

    公开(公告)号:CN107066707A

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201710188024.8

    申请日:2017-03-27

    CPC classification number: G06F17/5081 G06F17/505

    Abstract: 本发明提出一种使用快照的可调试性设计追踪方法及装置,涉及集成电路可调试性设计技术领域,该方法包括步骤1,设置追踪缓存与快照缓存的容量,确定追踪信号的宽度限制与快照信号的宽度限制;步骤2,根据所述追踪信号与所述快照信号的宽度限制,生成寄存器簇并迭代选择寄存器簇,从而确定所述追踪信号与所述快照信号;步骤3,根据所述追踪信号与所述快照信号,设置追踪结构,其中所述追踪结构包括追踪控制器、触发器、追踪总线、追踪缓存、快照缓存。本发明可以显著的提高调试数据的状态恢复率,增加硅后调试的可观测性,缩短硅后调试时间;本发明可以确定性的恢复关键信号;本发明可以减少追踪信号选择方法的运行时间。

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