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公开(公告)号：CN117970420A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202410036968.3
申请日：2024-01-10
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及光电倍增管测试装置及方法，具体涉及一种微通道板型光电倍增管寿命测试装置及方法，解决了现有微通道板型光电倍增管寿命测试装置无法实时评估自身暗发射对阳极累积输出的影响，也无法评估暗发射幅度和暗发射计数随阳极累积输出的变化的技术问题。本发明在暗箱环境下，采用脉冲信号发生器、光源、漫透射光学部件、功分器、高压源、鉴别器、电荷数字转换器、延时电缆、计算机及采集软件等构建微通道板型光电倍增管寿命测试装置，可以同时记录光响应信号和暗发射信号，从而实时评估微通道板型光电倍增管自身暗发射对阳极累积输出的影响，以及暗发射幅度和暗发射计数随阳极累积输出的变化。
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公开(公告)号：CN117492061A
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN202311313536.4
申请日：2023-10-11
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种脉冲辐射场探测器及探测方法，具体为一种脉冲X/γ射线多功能探测器及探测方法，主要解决了现有以闪烁体和光电倍增管为主的单通道脉冲X/γ射线探测器在能量、强度测量方面动态范围小、不具备空间分辨能力的技术问题。本发明包括防串扰部件、M×N个闪烁体以及多阳极光电倍增管；M≥1、N≥2或者M≥2、N≥1。本申请可实现脉冲X/γ射线的探测，可以缩减常规探测系统的规模。还提供一种探测方法，步骤1制备多功能探测器；步骤2将射线转化为M×N束闪烁光；步骤3将M×N束闪烁光转化为M×N束电子；步骤4，将M×N束电子倍增后输出为M×N个电流信号；步骤五，将M×N个电流信号输入数字化仪器，即可得到被测脉冲X/γ射线源的空间强度随时间变化的信息。
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公开(公告)号：CN119247084A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411361362.3
申请日：2024-09-27
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01R31/26 , G01R31/265
Abstract: 本发明涉及光电倍增管测试装置及方法，具体涉及一种微通道板型光电倍增管脉冲饱和恢复特性测试装置及方法，解决了现有的MCP‑PMT脉冲饱和恢复特性测试装置与实际应用需求不符，无法评估不同饱和深度和不同恢复程度下的脉冲饱和恢复特性的技术问题。本发明利用在暗箱环境中的激光二极管和光衰减片，以及脉冲信号发生器、功分器、合路器、高压源、数字化仪和数据处理单元对MCP‑PMT进行脉冲饱和恢复特性测试，脉冲信号发生器先后产生两路脉宽不同的驱动脉冲信号，与MCP‑PMT工作在线性状态的实际应用需求相符，测量结果可以反映MCP‑PMT在实际应用中的饱和恢复特性，也可以评估MCP‑PMT在不同饱和深度以及不同恢复程度下的脉冲饱和恢复特性。
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公开(公告)号：CN117558610A
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202311530250.1
申请日：2023-11-16
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所 , 西安交通大学
Abstract: 本发明涉及一种可切换电子增益的电子倍增器及电子倍增方法，特别涉及一种多路选通切换电子增益的电子倍增器及电子倍增方法，解决了现有电子倍增器改变电子增益时需要长时间才能达到稳定工作状态及使用寿命较短的问题。该电子倍增器包括由前至后排列的收集电极和电子倍增系统，还包括输出系统及供电系统；电子倍增系统为打拿极电子倍增系统且后端一侧包含多个开口打拿极；输出系统包括选通电极阵列、选通输出阳极阵列、脉冲发生器及脉冲馈入电路；选通电极和选通输出阳极数量等于开口打拿极数量；选通电极一一对应设在开口打拿极开口外侧；选通输出阳极一一对应位于选通电极内腔中；脉冲发生器输出端通过脉冲馈入电路分别与各选通电极连接。
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