公开(公告)号：CN119247084A

公开(公告)日：2025-01-03

申请号：CN202411361362.3

申请日：2024-09-27

Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所

Inventor： 李奎念 ,  陈萍 ,  刘虎林 ,  韦永林 ,  李少辉 ,  周鼎钧 ,  田进寿 ,  贺峦轩 ,  赵鑫楠 ,  缑永胜

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/265

Abstract: 本发明涉及光电倍增管测试装置及方法，具体涉及一种微通道板型光电倍增管脉冲饱和恢复特性测试装置及方法，解决了现有的MCP‑PMT脉冲饱和恢复特性测试装置与实际应用需求不符，无法评估不同饱和深度和不同恢复程度下的脉冲饱和恢复特性的技术问题。本发明利用在暗箱环境中的激光二极管和光衰减片，以及脉冲信号发生器、功分器、合路器、高压源、数字化仪和数据处理单元对MCP‑PMT进行脉冲饱和恢复特性测试，脉冲信号发生器先后产生两路脉宽不同的驱动脉冲信号，与MCP‑PMT工作在线性状态的实际应用需求相符，测量结果可以反映MCP‑PMT在实际应用中的饱和恢复特性，也可以评估MCP‑PMT在不同饱和深度以及不同恢复程度下的脉冲饱和恢复特性。