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公开(公告)号：CN108858202B
公开(公告)日：2020-11-10
申请号：CN201810932653.1
申请日：2018-08-16
Applicant: 中国科学院自动化研究所
IPC: B25J9/16
Abstract: 本发明属于精密装配技术领域，具体提供了一种基于“对准‑趋近‑抓取”的零件抓取装置的控制方法。为了解决现有的零件抓取方法的工作量大、精度低、系统复杂、误差大的问题，本发明的控制方法包括：步骤S100：对准阶段，调整末端执行器的位置使待抓取零件的图像特征与预设的图像特征的偏差小于预设阈值；步骤S200：趋近阶段，按照设定的位置调整量移动末端执行器以使夹持器到达待抓取零件的位置；步骤S300：抓取阶段，控制夹持器抓取待抓取零件。该控制方法的系统算法相对简单，计算量小，操作简单，并且通过减小零件的图像特征与预设图像特征的偏差实现视觉系统与零件的对准，对准精度高，减小了夹持器抓取零件时的误差。
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公开(公告)号：CN108858202A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201810932653.1
申请日：2018-08-16
Applicant: 中国科学院自动化研究所
IPC: B25J9/16
Abstract: 本发明属于精密装配技术领域，具体提供了一种基于“对准‑趋近‑抓取”的零件抓取装置的控制方法。为了解决现有的零件抓取方法的工作量大、精度低、系统复杂、误差大的问题，本发明的控制方法包括：步骤S100：对准阶段，调整末端执行器的位置使待抓取零件的图像特征与预设的图像特征的偏差小于预设阈值；步骤S200：趋近阶段，按照设定的位置调整量移动末端执行器以使夹持器到达待抓取零件的位置；步骤S300：抓取阶段，控制夹持器抓取待抓取零件。该控制方法的系统算法相对简单，计算量小，操作简单，并且通过减小零件的图像特征与预设图像特征的偏差实现视觉系统与零件的对准，对准精度高，减小了夹持器抓取零件时的误差。
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公开(公告)号：CN108972557B
公开(公告)日：2020-09-01
申请号：CN201810932656.5
申请日：2018-08-16
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明属于微装配技术领域，具体提供了一种微零件位姿自动对准装置及其方法。位姿自动对准方法包括：步骤S1000：获取第二微零件在显微视觉系统中当前的图像特征与期望的图像特征的偏差；步骤S2000：判断偏差是否小于预设阈值，若是则表明第二微零件与第一微零件对准，若否则执行步骤S3000；步骤S3000：基于偏差计算末端执行器的姿态调整量和位置调整量；步骤S4000：按照姿态调整量和位置调整量调整末端执行器的位姿并返回步骤S1000；其中，位置调整量包括用于位置对准的调整量和用于补偿姿态调整引起的位置偏移的补偿量。通过闭环控制和位置补偿，减小了对准误差，提高了对准精度和对准效率，解决了现有的微零件位姿对准方法操作流程比较复杂、对准效率低的问题。
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公开(公告)号：CN108972557A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201810932656.5
申请日：2018-08-16
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明属于微装配技术领域，具体提供了一种微零件位姿自动对准装置及其方法。位姿自动对准方法包括：步骤S1000：获取第二微零件在显微视觉系统中当前的图像特征与期望的图像特征的偏差；步骤S2000：判断偏差是否小于预设阈值，若是则表明第二微零件与第一微零件对准，若否则执行步骤S3000；步骤S3000：基于偏差计算末端执行器的姿态调整量和位置调整量；步骤S4000：按照姿态调整量和位置调整量调整末端执行器的位姿并返回步骤S1000；其中，位置调整量包括用于位置对准的调整量和用于补偿姿态调整引起的位置偏移的补偿量。通过闭环控制和位置补偿，减小了对准误差，提高了对准精度和对准效率，解决了现有的微零件位姿对准方法操作流程比较复杂、对准效率低的问题。
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