-
公开(公告)号：CN108022235A
公开(公告)日：2018-05-11
申请号：CN201711182523.2
申请日：2017-11-23
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明涉及高压输电设备巡检领域，提出一种高压输电铁塔关键部件缺陷识别方法，旨在解决在高压输电设备巡检中关键设备缺陷检测效率低下等问题，该方法包括：获取高压输电铁塔关键部件的图像数据，并对上述图像数据作去噪预处理操作；根据上述图像数据，利用预先训练好的定位识别模型定位出上述输电铁塔关键部件在上述图像数据中的区域位置，确定上述区域位置的图像数据为关键部件图像数据；根据上述关键部件图像数据，利用预先训练好的缺陷识别模型对上述区域位置的设备进行缺陷识别，标记所识别出的具有缺陷的关键部件。关键部件图像采取先定位再检测的自动识别策略，实现了对高压输电铁塔关键部件的自动检测，提高了缺陷检测的效率。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105447512A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201510779518.4
申请日：2015-11-13
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
CPC classification number: G06K9/6269 , G06T7/0004 , G06T2207/30164
Abstract: 本发明公开了一种粗精结合的光学表面缺陷检测方法及装置，本发明涉及光学表面检测领域。本发明是要解决传统的肉眼识别的检测方式效率低下、检测精度有限、自动化水平低的问题，从而提出一种基于图像处理和模式识别技术的光学表面缺陷识别方法。该方法是分为两个步骤，步骤一对输入的原始图像直接利用基于图像建模的方差信息进行快速粗检测，获取异常区域的位置及其区域；步骤二是对区域中疑似缺陷利用基于Gist的模式识别方法进行精检测，最后输出结果。本发明应用于光滑表面的定量损伤检测和污渍分析，检测效率快，精度高。
-
公开(公告)号：CN108022235B
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN201711182523.2
申请日：2017-11-23
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明涉及高压输电设备巡检领域，提出一种高压输电铁塔关键部件缺陷识别方法，旨在解决在高压输电设备巡检中关键设备缺陷检测效率低下等问题，该方法包括：获取高压输电铁塔关键部件的图像数据，并对上述图像数据作去噪预处理操作；根据上述图像数据，利用预先训练好的定位识别模型定位出上述输电铁塔关键部件在上述图像数据中的区域位置，确定上述区域位置的图像数据为关键部件图像数据；根据上述关键部件图像数据，利用预先训练好的缺陷识别模型对上述区域位置的设备进行缺陷识别，标记所识别出的具有缺陷的关键部件。关键部件图像采取先定位再检测的自动识别策略，实现了对高压输电铁塔关键部件的自动检测，提高了缺陷检测的效率。
-
公开(公告)号：CN105447512B
公开(公告)日：2018-09-25
申请号：CN201510779518.4
申请日：2015-11-13
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种粗精结合的光学表面缺陷检测方法及装置，本发明涉及光学表面检测领域。本发明是要解决传统的肉眼识别的检测方式效率低下、检测精度有限、自动化水平低的问题，从而提出一种基于图像处理和模式识别技术的光学表面缺陷识别方法。该方法是分为两个步骤，步骤一对输入的原始图像直接利用基于图像建模的方差信息进行快速粗检测，获取异常区域的位置及其区域；步骤二是对区域中疑似缺陷利用基于Gist的模式识别方法进行精检测，最后输出结果。本发明应用于光滑表面的定量损伤检测和污渍分析，检测效率快，精度高。
-
公开(公告)号：CN105631857B
公开(公告)日：2018-02-09
申请号：CN201510954616.7
申请日：2015-12-17
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G06T7/00
Abstract: 本发明公开了一种光学元件表面划痕的检测方法和装置。所述方法包括：对光学元件表面的图像二值化后，检测得到所述光学元件表面初步划痕的信息；对所述初步划痕的信息进行分组，每一组代表一条完整的划痕；根据分组后的初步划痕的信息得到每一条完整划痕的感兴趣处理矩形区域；根据所述每一条完整划痕的感兴趣处理矩形区域获取每一条完整划痕对应的精确划痕点集；对每一条完整划痕对应的精确划痕点集进行分段，并剔除每段中的干扰噪点；对每一条完整划痕中的所有点集与每一条完整划痕的精确划痕点集进行合并，并获取每一条完整划痕对应的划痕的信息，所述划痕的信息包括长度以及是否存在弯曲。本发明的方案抗噪声干扰能力，检测速度较快。
-
公开(公告)号：CN105631857A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201510954616.7
申请日：2015-12-17
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G06T7/00
CPC classification number: G06T7/0008 , G06T2207/30164
Abstract: 本发明公开了一种光学元件表面划痕的检测方法和装置。所述方法包括：对光学元件表面的图像二值化后，检测得到所述光学元件表面初步划痕的信息；对所述初步划痕的信息进行分组，每一组代表一条完整的划痕；根据分组后的初步划痕的信息得到每一条完整划痕的感兴趣处理矩形区域；根据所述每一条完整划痕的感兴趣处理矩形区域获取每一条完整划痕对应的精确划痕点集；对每一条完整划痕对应的精确划痕点集进行分段，并剔除每段中的干扰噪点；对每一条完整划痕中的所有点集与每一条完整划痕的精确划痕点集进行合并，并获取每一条完整划痕对应的划痕的信息，所述划痕的信息包括长度以及是否存在弯曲。本发明的方案抗噪声干扰能力，检测速度较快。
-
-
-
-
-
Search Results
6
records
(took 0.02 seconds)
