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公开(公告)号：CN108562547B
公开(公告)日：2021-02-19
申请号：CN201810203830.2
申请日：2018-03-13
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: G01N21/23
Abstract: 本发明公开了一种激光晶体热应力双折射系数测量装置及其方法。该装置包含模拟光路和检测光路，检测光路和模拟光路均聚焦于样品的测试点上。将样品放置于该装置中后调节所负载激光的功率，可得到不同负载条件下样品的热应力双折射系数。该方法包括以下步骤：将样品置于如上述的装置中，打开模拟光路向样品内测试点聚焦激光至样品发生热应力双折射；步骤S200：打开检测光路向测试点聚焦起偏的探测光，记录从样品离开，并经检偏器检偏的分光光强；步骤S300：按照下式计算得到相位延迟量Φ：(Ip‑Ic)/(Ip+Ic)＝cosΦ其中，Ip和Ic为分光光强。该方法利用起偏‑检偏探测光，探测发生热应力双折射的激光晶体产生的相位延迟量Φ。该方法测量结果准确，避免人工误差。
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公开(公告)号：CN110118782A
公开(公告)日：2019-08-13
申请号：CN201910380849.9
申请日：2019-05-08
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: G01N21/95
Abstract: 一种用于测量晶体内部介观缺陷散射的激光层析扫描仪。本激光层析扫描仪包含探测光源、样品架、测量光路、功率计、显微镜组、CCD探测器以及数据处理软件；其中测量光路要求探测光须完全贯穿样品，贯穿样品后剩余的激光由激光功率计接收；显微镜组在光路的侧面聚焦于样品内的探测光，并收集样品内部缺陷受探测光照射后散射的光，最后成像于CCD的光敏面，在数据处理软件中可以对缺陷的位置和大小进行标注，以及散斑强度的存储和分析；只需通过电机移动样品架来控制探测光在样品内的位置，即可获得样品内部不同层次的缺陷散射强度。
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公开(公告)号：CN110441266A
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201910380863.9
申请日：2019-05-08
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
Abstract: 一种基于晶体介观缺陷测量仪的动态散斑检测方法。本方法将晶体介观缺陷测量仪的泵浦光源与探测光源通过会聚光路聚焦于样品的同一点上，泵浦激光加热样品内的测试点，剩余激光由激光功率计接收；测量光路要求探测光须完全贯穿样品，探测激光通过被加热的测试点，由于测试点的温度分布，缺陷散斑将发生变化；显微镜组在光路的侧面聚焦于样品内的测试点，并收集样品内部缺陷受探测光照射后散射的光，最后成像于CCD的光敏面；只需通过电机移动样品架来控制探测光在样品内的位置，即可获得样品内部不同测试点的缺陷散射强度。
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公开(公告)号：CN108562547A
公开(公告)日：2018-09-21
申请号：CN201810203830.2
申请日：2018-03-13
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: G01N21/23
Abstract: 本发明公开了一种激光晶体热应力双折射系数测量装置及其方法。该装置包含模拟光路和检测光路，检测光路和模拟光路均聚焦于样品的测试点上。将样品放置于该装置中后调节所负载激光的功率，可得到不同负载条件下样品的热应力双折射系数。该方法包括以下步骤：将样品置于如上述的装置中，打开模拟光路向样品内测试点聚焦激光至样品发生热应力双折射；步骤S200：打开检测光路向测试点聚焦起偏的探测光，记录从样品离开，并经检偏器检偏的分光光强；步骤S300：按照下式计算得到相位延迟量Φ：(Ip-Ic)/(Ip+Ic)＝cosΦ其中，Ip和Ic为分光光强。该方法利用起偏-检偏探测光，探测发生热应力双折射的激光晶体产生的相位延迟量Φ。该方法测量结果准确，避免人工误差。
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