大样品X射线衍射物相分析支架

    公开(公告)号:CN106918608A

    公开(公告)日:2017-07-04

    申请号:CN201510982237.9

    申请日:2015-12-24

    CPC classification number: G01N23/20025 G01N2223/056 G01N2223/309

    Abstract: 本发明涉及一种大样品X射线衍射物相分析支架。商用的X射线衍射仪所配备的物相分析用标准平面样品台使用簧片对样品进行定位,由于簧片弹力和尺寸的限制,其能测试的样品大小一般在φ40以下,厚度在4mm以下,质量不超过100g。本发明所涉及的X射线衍射仪用大样品物相分析扩展支架是对X射线衍射仪标准平面样品台的扩展,利用标准平面样品台的旋转轴为支撑,极大的提高了支架的承重能力,使得X射线衍射仪能够对大样品进行物相分析。使用扩展支架后,样品的尺寸仅受限于X射线入射光路段与衍射光路段之间的距离,样品重量则以不能造成测角仪的旋转轴变形为限制。

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