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公开(公告)号:CN102623523A
公开(公告)日:2012-08-01
申请号:CN201210086429.8
申请日:2012-03-28
Applicant: 中国科学院半导体研究所
IPC: H01L31/0352 , H01L31/102
Abstract: 本发明公开了一种有多色响应的量子点红外探测器,包括:一GaAs衬底;一GaAs底接触层制作在GaAs衬底上;一下GaAs隔离层制作在GaAs底接触层上;一组分渐变AlGaAs层制作在下GaAs隔离层上;一Al0.2Ga0.8As势垒层制作在组分渐变AlGaAs层上;一3~10周期的InAs/InGaAs/GaAs/AlGaAs点-阱结构层制作在Al0.2Ga0.8As势垒层上;一组分渐变AlGaAs层制作在3~10周期点-阱结构上;一上GaAs隔离层制作在组分渐变AlGaAs层上;一3~10周期的InGaAs/GaAs量子点结构层制作在上GaAs隔离层上;一GaAs顶接触层制作在3~10周期的InGaAs/GaAs量子点结构上;一上电极制作在GaAs顶接触层上,收集并输出光电流信号;一下电极制作在GaAs底接触层台面上,与上电极一起给探测器加偏压。
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公开(公告)号:CN102623523B
公开(公告)日:2014-09-03
申请号:CN201210086429.8
申请日:2012-03-28
Applicant: 中国科学院半导体研究所
IPC: H01L31/0352 , H01L31/102
Abstract: 本发明公开了一种有多色响应的量子点红外探测器,包括:一GaAs衬底;一GaAs底接触层制作在GaAs衬底上;一下GaAs隔离层制作在GaAs底接触层上;一组分渐变AlGaAs层制作在下GaAs隔离层上;一Al0.2Ga0.8As势垒层制作在组分渐变AlGaAs层上;一3~10周期的InAs/InGaAs/GaAs/AlGaAs点-阱结构层制作在Al0.2Ga0.8As势垒层上;一组分渐变AlGaAs层制作在3~10周期点-阱结构上;一上GaAs隔离层制作在组分渐变AlGaAs层上;一3~10周期的InGaAs/GaAs量子点结构层制作在上GaAs隔离层上;一GaAs顶接触层制作在3~10周期的InGaAs/GaAs量子点结构上;一上电极制作在GaAs顶接触层上,收集并输出光电流信号;一下电极制作在GaAs底接触层台面上,与上电极一起给探测器加偏压。
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