一种多级调制的微波信号相位噪声测量系统及方法

    公开(公告)号:CN119299025A

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202310841717.8

    申请日:2023-07-10

    Abstract: 本发明公开一种多级调制的微波信号相位噪声测量系统和方法,该系统包括:激光光源模块,用于产生光载波信号;微波信号模块,用于产生相同的第一路微波信号和第二路微波信号;一级调制模块,其第一输入端连接所述激光光源模块的输出端,其第二输入端连接所述微波信号模块的输出端,用于将所述第一路微波信号加载到所述光载波信号上,生成一级调制信号;二级调制模块,其输入端连接所述一级调制模块的输出端,用于将所述一级调制信号进行延时、相位正交和偏振态调制,将所述第二路微波信号加载到经过调制的所述一级调制信号上;信号处理模块,其输入端连接所述二级调制模块的输出端,用于对所述二级调制信号进行信号处理,得到微波信号的相位噪声。

    基于波长调谐的高精细度F-P型传感器的工作点调控系统

    公开(公告)号:CN117664196A

    公开(公告)日:2024-03-08

    申请号:CN202311363677.7

    申请日:2023-10-20

    Abstract: 本发明公开一种基于波长调谐的高精细度F‑P型传感器的工作点调控系统,包括:激光器(1),用于产生波长连续变化的原始光;高精细度F‑P型传感器(4),设置在原始光的光路上,用于将原始光转化为探测光;第一光电探测器模块(51),设置在探测光的光路上;第二光电探测器模块(52),设置在原始光的光路上;分析反馈模块,其第一端口连接第一光电探测器模块(51),其第二端口连接第二光电探测器模块(52),用于基于探测电信号检测高精细度F‑P型传感器(4)的工作点,当到达激光器(1)高精细度F‑P型传感器(4)的工作点后,停止激光器(1)的波长扫描,并对激光器(1)的波长进行反馈控制,将工作点控制在预设范围内。

    光声池及多组分气体检测系统
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116183514A

    公开(公告)日:2023-05-30

    申请号:CN202310361711.0

    申请日:2023-04-06

    Abstract: 本发明提供了一种光声池及多组分气体检测系统,涉及光声光谱气体检测技术领域,该光声池包括池体;第一腔体,设于所述池体内;缓冲室,设于所述第一腔体的两端,且与所述第一腔体连通;第二腔体,贯穿于所述第一腔体设置,且与所述第一腔体贯通;光学玻璃窗片,安装于所述缓冲室的两端和所述第二腔体的两端,用于为激光光束提供入射口并密封所述缓冲室和所述第二腔体;微音器开孔,设于所述第一腔体或所述第二腔体内。该光声池通过增加入射窗口的数量,解决了单一入射窗口无法实现多光束入射的情况,同时能更高效地放大声压信号,适用于多组分气体检测的环境。

    基于多级互相关的信号处理方法、装置、电子设备和介质

    公开(公告)号:CN118708856A

    公开(公告)日:2024-09-27

    申请号:CN202310253014.3

    申请日:2023-03-16

    Abstract: 本公开提供了一种基于多级互相关的信号处理方法。该基于多级互相关的信号处理方法包括:基于两路待处理信号,采集得到多个信号对;其中,每个信号对包括一路长度为N的第一目标信号和一路长度为2N‑1的第二目标信号;其中,N为正整数;针对多个信号对中的每个信号对分别进行多级互相关降噪处理,得到多个第三目标信号;以及对多个第三目标信号进行平均滤波降噪处理,得到第四目标信号。本公开还提供了一种基于多级互相关的信号处理装置、设备、存储介质和程序产品。

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