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公开(公告)号：CN102903614A
公开(公告)日：2013-01-30
申请号：CN201210311148.8
申请日：2012-08-28
Applicant: 中国科学院半导体研究所
IPC: H01L21/205 , H01L21/314
Abstract: 本发明提供了一种制备非极性GaN薄膜的方法。该方法包括：在衬底表面制备A面ZnO缓冲薄膜；在制备的A面ZnO缓冲薄膜上制备非极性GaN薄膜。本发明中，ZnO缓冲层能够协调GaN和衬底之间的晶格失配和热失配，从而极大的提高了制备的非极性GaN薄膜的结晶质量。
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