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公开(公告)号:CN105624792A
公开(公告)日:2016-06-01
申请号:CN201610173297.0
申请日:2016-03-24
Applicant: 中国科学院半导体研究所
CPC classification number: C30B29/42 , C30B25/183 , C30B25/186 , C30B29/64
Abstract: 本发明提供了一种硅基GaAs单晶薄膜及其制备方法,方法首先对硅衬底进行脱氧及退火,然后分为四个温度在硅衬底上依次形成GaAs低温成核层、GaAs中温缓冲层、GaAs中温缓冲层及高温GaAs外延层,最后降温得到硅基GaAs薄膜。本发明制得的硅基GaAs薄膜具有表面光亮、起伏小及缺陷少的优点。
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公开(公告)号:CN105624792B
公开(公告)日:2019-07-05
申请号:CN201610173297.0
申请日:2016-03-24
Applicant: 中国科学院半导体研究所
Abstract: 本发明提供了一种硅基GaAs单晶薄膜及其制备方法,方法首先对硅衬底进行脱氧及退火,然后分为四个温度在硅衬底上依次形成GaAs低温成核层、GaAs中温缓冲层、GaAs中温缓冲层及高温GaAs外延层,最后降温得到硅基GaAs薄膜。本发明制得的硅基GaAs薄膜具有表面光亮、起伏小及缺陷少的优点。
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