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公开(公告)号：CN1740763A
公开(公告)日：2006-03-01
申请号：CN200510086413.7
申请日：2005-09-13
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 全口径增益测量仪由光束匹配望远镜、过滤系统和光电耦合器件CCD以及数据采集、处理和显示系统组成，系统采用了二维面阵CCD探测光强信号的二维强度分布，可以同时测量被测激光放大器全口径内的增益及增益分布。本发明结构简单、稳定可靠、测量精度高，相对于现有的多点探针光增益测量技术，能够克服实验过程中相邻两次发射之间的随机性而导致的测量误差，能够简化实验过程，加快测量速度并提高测量精度。
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公开(公告)号：CN1465968A
公开(公告)日：2004-01-07
申请号：CN02123756.5
申请日：2002-06-24
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 一种动态范围和测量精度可调的哈特曼波前传感器由光学匹配系统、波面分割取样阵列元件、测量子孔径选通控制元件和CCD探测器组成，测量子孔径选通控制元件位于波面分割取样阵列的前面或后面，或光学匹配系统中与波面分割取样阵列的共轭位置，测量子孔径选通控制元件的采样通光子孔径与波面分割取样阵列子孔径的相同，通过控制测量子孔径的采样通光子孔径的选通来控制波面分割取样阵列的采样周期，以达到调整波前传感器测量精度和动态范围的目的。本通过采样分辨率的选择，既可以测量低频、P－V值大的像差，又可测高频、P－V值小的像差，具有结构简单、应用适应性强的优点，可广泛应用于光学加工的粗、精像差测量。
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公开(公告)号：CN1740763B
公开(公告)日：2011-08-31
申请号：CN200510086413.7
申请日：2005-09-13
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 全口径增益测量仪由光束匹配望远镜、过滤系统和光电耦合器件CCD以及数据采集、处理和显示系统组成，系统采用了二维面阵CCD探测光强信号的二维强度分布，可以同时测量被测激光放大器全口径内的增益及增益分布。本发明结构简单、稳定可靠、测量精度高，相对于现有的多点探针光增益测量技术，能够克服实验过程中相邻两次发射之间的随机性而导致的测量误差，能够简化实验过程，加快测量速度并提高测量精度。
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公开(公告)号：CN1207547C
公开(公告)日：2005-06-22
申请号：CN02123754.9
申请日：2002-06-24
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 一种脉冲光波前测量的哈特曼波前传感器包括光学匹配系统、波面分割取样阵列元件、CCD探测、数据采集电路、外触发接口电路和计算机，数据采集电路用于采集CCD探测器曝光信息，外触发接口电路接收脉冲光同步电信号，并产生CCD曝光采集外触发信号，控制CCD探测器曝光采集，在曝光采集期间，脉冲光发射出光，使CCD探测器采集到激光波前信息。CCD探测器是具有外触发曝光采样控制功能的CCD器件，外触发接口电路可由独立的电路系统构成，或集成在CCD采集卡、电源驱动电路中。本发明的结构保证了在一台脉冲光哈特曼传感器上，既可以测量脉冲光光学系统的像差，又可测连续光光学系统的像差，具有结构简单、应用适应性强的优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1411285A
公开(公告)日：2003-04-16
申请号：CN00132097.1
申请日：2000-12-18
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 本发明公布了一种电荷耦合器件响应线性度的标定方法。本发明利用单色平面光照射衍射屏，并经傅立叶透镜会聚，用电荷耦合器件对傅立叶透镜后焦平面的光斑点阵进行采样，获得光斑点阵输出灰度值；分析由夫琅和费衍射理论计算出的光斑强度理论分布值与电荷耦合器件采样的输出灰度值，实现对电荷耦合器件响应线性度的标定。该方法具有调试容易，成本低的特点，便于工程实现。
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公开(公告)号：CN1212508C
公开(公告)日：2005-07-27
申请号：CN02123756.5
申请日：2002-06-24
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 一种动态范围和测量精度可调的哈特曼波前传感器由光学匹配系统、波面分割取样阵列元件、测量子孔径选通控制元件和CCD探测器组成，测量子孔径选通控制元件位于波面分割取样阵列的前面或后面，或光学匹配系统中与波面分割取样阵列的共轭位置，测量子孔径选通控制元件的采样通光子孔径与波面分割取样阵列子孔径的相同，通过控制测量子孔径的采样通光子孔径的选通来控制波面分割取样阵列的采样周期，以达到调整波前传感器测量精度和动态范围的目的。本通过采样分辨率的选择，既可以测量低频、P-V值大的像差，又可测高频、P-V值小的像差，具有结构简单、应用适应性强的优点，可广泛应用于光学加工的粗、精像差测量。
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公开(公告)号：CN1200453C
公开(公告)日：2005-05-04
申请号：CN00132097.1
申请日：2000-12-18
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 本发明公布了一种电荷耦合器件响应线性度的标定方法。本发明利用单色平面光照射衍射屏，并经傅立叶透镜会聚，用电荷耦合器件对傅立叶透镜后焦平面的光斑点阵进行采样，获得光斑点阵输出灰度值；分析由夫琅和费衍射理论计算出的光斑强度理论分布值与电荷耦合器件采样的输出灰度值，实现对电荷耦合器件响应线性度的标定。该方法具有调试容易，成本低的特点，便于工程实现。
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公开(公告)号：CN1731112A
公开(公告)日：2006-02-08
申请号：CN200510086253.6
申请日：2005-08-19
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 全口径光强测量仪由光束匹配系统、过滤系统和二维面阵CCD、以及数据采集和处理系统组成，光束匹配系统将被测光束的口径转化到二维面阵CCD的靶面大小，再经过过滤系统消除杂散光以及将被测光束的强度衰减到二维面阵CCD可以测量的范围内，二维面阵CCD可以同时测量被测激光放大器全口径内的光强分布，将过滤系统过滤后的激光光束的二维光强信号，经过灰度信号到光强的转换、图像对准后转换为电信号，数据采集和处理系统采集二维面阵CCD的测量数据并进行存储，同时计算并输出全口径内的光强和光强分布的均匀性，也完成光强以及和光强分布均匀性相关参量的计算。本发明结构简单、稳定可靠、测量精度高，能够克服实验过程中相邻两次发射之间的随机性而导致的测量误差，能够简化实验过程，加快测量速度并提高测量精度。
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公开(公告)号：CN1465966A
公开(公告)日：2004-01-07
申请号：CN02123754.9
申请日：2002-06-24
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 一种脉冲光波前测量的哈特曼波前传感器包括光学匹配系统、波面分割取样阵列元件、CCD探测、数据采集电路、外触发接口电路和计算机，数据采集电路用于采集CCD探测器曝光信息，外触发接口电路接收脉冲光同步电信号，并产生CCD曝光采集外触发信号，控制CCD探测器曝光采集，在曝光采集期间，脉冲光发射出光，使CCD探测器采集到激光波前信息。CCD探测器是具有外触发曝光采样控制功能的CCD器件，外触发接口电路可由独立的电路系统构成，或集成在CCD采集卡、电源驱动电路中。本发明的结构保证了在一台脉冲光哈特曼传感器上，既可以测量脉冲光光学系统的像差，又可测连续光光学系统的像差，具有结构简单、应用适应性强的优点。
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