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公开(公告)号：CN117268564A
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202311269826.3
申请日：2023-09-28
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种快速波前重构方法，该方法可适用于哈特曼波前传感器和剪切干涉仪等斜率型波前传感器，在对波前进行区域法或样条重构时，将初始斜率下采样形成多个尺度的斜率矩阵，再从大的尺度到小的尺度依次重构，除最大的尺度，每一个尺度上的初始值为其上一尺度的上采样。该方法流程简单、稳定，易实现，相对于现有的直接在原始斜率上重构的方法，可以大大减少迭代次数，提高数值计算稳定度，从而实现快速、稳定、有效的波前重构。
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公开(公告)号：CN100451577C
公开(公告)日：2009-01-14
申请号：CN200310100168.1
申请日：2003-10-15
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 基于微棱镜阵列的脉冲光光束质量检测哈特曼波前传感器，包括能接收并发出同步脉冲信号的数据采集设备、微棱镜阵列、傅立叶透镜和光电探测器，其特点在于：所述的微棱镜哈特曼波前传感器由变周期二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列、与其紧贴着的傅立叶透镜及光电探测器组成，其中的二维锯齿形相位光栅阵列的微棱镜阵列可有单面光刻中心对称的环形布局结构和两面光刻的双面光栅结构，既可采用微光学技术，也可采用二元光学技术加工。本发明结构简单、稳定，加工工艺易实现，相对于现有的微透镜技术，能够简化哈特曼波前传感器的安装、调节，实现批量化生产。
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公开(公告)号：CN1731112A
公开(公告)日：2006-02-08
申请号：CN200510086253.6
申请日：2005-08-19
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 全口径光强测量仪由光束匹配系统、过滤系统和二维面阵CCD、以及数据采集和处理系统组成，光束匹配系统将被测光束的口径转化到二维面阵CCD的靶面大小，再经过过滤系统消除杂散光以及将被测光束的强度衰减到二维面阵CCD可以测量的范围内，二维面阵CCD可以同时测量被测激光放大器全口径内的光强分布，将过滤系统过滤后的激光光束的二维光强信号，经过灰度信号到光强的转换、图像对准后转换为电信号，数据采集和处理系统采集二维面阵CCD的测量数据并进行存储，同时计算并输出全口径内的光强和光强分布的均匀性，也完成光强以及和光强分布均匀性相关参量的计算。本发明结构简单、稳定可靠、测量精度高，能够克服实验过程中相邻两次发射之间的随机性而导致的测量误差，能够简化实验过程，加快测量速度并提高测量精度。
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公开(公告)号：CN1607379A
公开(公告)日：2005-04-20
申请号：CN200310100168.1
申请日：2003-10-15
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 基于微棱镜阵列的脉冲光光束质量检测哈特曼波前传感器，包括能接收并发出同步脉冲信号的数据采集设备、微棱镜阵列、傅立叶透镜和光电探测器，其特点在于：所述的微棱镜哈特曼波前传感器由变周期二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列、与其紧贴着的傅立叶透镜及光电探测器组成，其中的二维锯齿形相位光栅阵列的微棱镜阵列可有单面光刻中心对称的环形布局结构和两面光刻的双面光栅结构，既可采用微光学技术，也可采用二元光学技术加工。本发明结构简单、稳定，加工工艺易实现，相对于现有的微透镜技术，能够简化哈特曼波前传感器的安装、调节，实现批量化生产。
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公开(公告)号：CN1601230A
公开(公告)日：2005-03-30
申请号：CN03126430.1
申请日：2003-09-28
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 基于微棱镜阵列的光学检测哈特曼波前传感器，包括光源、过渡系统、缩束系统、微棱镜阵列、傅立叶透镜和光电探测器，其特征在于：所述的微棱镜哈特曼波前传感器由变周期二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列、与其紧贴着的傅立叶透镜及光电探测器组成；其中的二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列，可有单面光刻中心对称的环形布局结构和两面光刻的双面光栅结构，既可采用微光学技术，也可采用二元光学技术加工。本发明结构简单、稳定，加工工艺易实现，相对于现有的微透镜技术，能够简化哈特曼波前传感器的安装、调节，实现批量化生产。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1465966A
公开(公告)日：2004-01-07
申请号：CN02123754.9
申请日：2002-06-24
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 一种脉冲光波前测量的哈特曼波前传感器包括光学匹配系统、波面分割取样阵列元件、CCD探测、数据采集电路、外触发接口电路和计算机，数据采集电路用于采集CCD探测器曝光信息，外触发接口电路接收脉冲光同步电信号，并产生CCD曝光采集外触发信号，控制CCD探测器曝光采集，在曝光采集期间，脉冲光发射出光，使CCD探测器采集到激光波前信息。CCD探测器是具有外触发曝光采样控制功能的CCD器件，外触发接口电路可由独立的电路系统构成，或集成在CCD采集卡、电源驱动电路中。本发明的结构保证了在一台脉冲光哈特曼传感器上，既可以测量脉冲光光学系统的像差，又可测连续光光学系统的像差，具有结构简单、应用适应性强的优点。
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公开(公告)号：CN100573080C
公开(公告)日：2009-12-23
申请号：CN200610165077.X
申请日：2006-12-13
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 利用分光器件实现对准功能的哈特曼波前传感器及其检测方法，在原有系统中添加了粗对准和精对准两项部分，其中粗对准部分包括：带孔的成像屏、分光器件、粗对准探测系统，精对准部分包括：聚焦透镜、精对准分光镜、精对准探测系统。入射光束经过粗对准和精对准两个步骤后，能快捷方便地进入到微透镜阵列的测量视场内，并且能与系统严格同光轴，从而提高了哈特曼系统的测量精度；同时利用该哈特曼波前传感器可以方便地进行正透镜，负透镜，凸镜，凹镜，平面镜等的检测。本发明能把调整的结果实时地显示出来，具有直观、易懂的特性，从而降低了对使用人员的要求，减少了调节时间；并且该发明中所用的器件规格要求低，价格低廉，容易购买。
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公开(公告)号：CN118442922A
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202410623810.6
申请日：2024-05-20
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于点源哈特曼波前探测器的质心检测方法，该方法可适用于点源哈特曼波前传感器。在进行子孔径的质心检测时，在对子孔径图像减阈值后，通过在两个方向上的加权灰度累积，找到最适合的光斑中心位置，以此为中心，根据光斑的理论大小进行质心计算。该方法流程简单、稳定，易实现，相对于现有的方法，可以很好的减少伪光斑和杂散光的影响，从而实现快速、稳定、有效的质心检测。
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公开(公告)号：CN101762331B
公开(公告)日：2013-04-03
申请号：CN201010034142.1
申请日：2010-01-15
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 一种基于四步空间移相的共光路径向剪切干涉仪，包括：缩束系统、起偏器、环路径向剪切系统CRS，四步空间移相系统SPS、光束编排系统、CCD和计算机组成，畸变光束进入波前传感器，利用缩束系统变换光束口径，起偏器对光束偏振方向进行调制；再进入环路径向剪切系统CRS，形成同光轴、偏振方向互相垂直且光束口径按相同比例缩放的两束光；该两光束进入四步空间移相系统后被分成四对同轴光束，每对同轴光束偏振方向相同且它们之间相位差分别为0、π/2、π、3π/2；四对同轴光束经光束编排后同时进入CCD的光敏面，形成四幅径向剪切干涉图，计算机根据四幅干涉图数据经过两次矩阵运算后即可复原出待测光束畸变波前。本发明扩大了采用干涉法波前传感器的应用领域，优越性明显。
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公开(公告)号：CN101162294B
公开(公告)日：2011-06-15
申请号：CN200710176882.7
申请日：2007-11-06
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
IPC: G02B26/06
Abstract: 用于惯性约束聚变装置的全光路像差的测量和校正方法，将哈特曼波前传感器放置在激光放大器之后的光路中探测近场波前，将反射变形镜放置在哈特曼波前传感器之前的光路中，将CCD放置在全光路远场，以探测焦斑强度分布，动态像差由哈特曼波前传感器直接测量，静态相差由反射变形镜、哈特曼波前传感器和远场CCD相互配合共同测量，当驱动反射变形镜，哈特曼波前传感器记录下变形镜调制的不同波前，同时远场CCD记录下相应的远场强度；根据记录下的不同近场调制波前和相应的远场强度数据对，利用迭代算法计算出惯性约束聚变装置全光路静态像差，驱动反射变形镜将该像差校正。本发明实现了ICF装置全光路像差的测量和校正。
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