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公开(公告)号:CN119915545A
公开(公告)日:2025-05-02
申请号:CN202510426716.6
申请日:2025-04-07
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 本发明公开一种基于粗跟踪误差驱动的精跟踪系统的性能测试装置及方法,涉及复合轴跟踪控制领域,包括:光源、离轴反射式平行光管、目标模拟快反镜、精探测器、精跟踪快反镜、精跟踪控制器、粗跟踪平台动力学仿真计算机、粗跟踪平台管理单元、平行光管云台机构、主镜和次镜。其方法为利用粗跟踪系统的误差驱动目标模拟快反镜运动,并且将目标经过离轴反射式平行光管耦合至精跟踪系统,精探测器提取得到脱靶量,利用脱靶量精跟踪快反镜完成图像闭环控制,同时精跟踪系统输出卸载量至粗跟踪模拟系统完成粗精两级系统卸载。本发明能够在不具备真实粗跟踪平台的环境下完成精跟踪系统关键功能及性能验证,有效节省测试成本,有利于实际工程应用。