多通道数控脉冲偏置源及超导测试系统

    公开(公告)号:CN116192098A

    公开(公告)日:2023-05-30

    申请号:CN202310099430.2

    申请日:2023-02-09

    Abstract: 本发明提供一种多通道数控脉冲偏置源及超导测试系统,包括:数控模块、控制信号产生模块及N路输出模块;其中,N为大于1的自然数;所述数控模块用于提供N路模拟电压信号;所述控制信号产生模块接收偏置时钟信号,并基于所述偏置时钟信号产生控制信号;其中,所述偏置时钟信号与超导接口电路连接的超导电路的工作时钟同频;各路输出模块分别接收一路模拟电压信号,并基于所述控制信号导通或关断对应模拟电压信号的输出通路,进而得到N路交流脉冲偏置信号。本发明采用同步脉冲控制,可以保证系统时钟的同步;采用多通道输出,且可灵活扩展;设计灵活,精度高,占用空间小;采用浮地输出技术,噪声小,准确性高。

    低温测试系统
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114353975A

    公开(公告)日:2022-04-15

    申请号:CN202111670181.5

    申请日:2021-12-31

    Abstract: 本发明提供一种低温测试系统,所述低温测试系统包括固定平台、真空罩、制冷装置及探测装置;所述制冷装置包括制冷机、一级冷头、二级冷头、一级制冷冷平台及二级制冷冷平台;所述探测装置包括:室温端面板、一级探测冷平台、二级探测冷平台、芯片放置台及磁屏蔽罩。通过本发明解决了现有的需要液氦提供测试环境以及测试系统降温时间较长、芯片更换不方便的问题。

    马赫曾德尔电光调制器及调制方法

    公开(公告)号:CN113126332A

    公开(公告)日:2021-07-16

    申请号:CN202110474166.7

    申请日:2021-04-29

    Abstract: 本发明提供一种马赫曾德尔电光调制器及调制方法,包括第一2×2MMI结构、第二2×2MMI结构及2个相位调制臂,其中,相位调制臂位于所述第一2×2MMI结构及第二2×2MMI结构之间,且相位调制臂的两侧具有DC电极及RF电极,以构成包括1个输入光波导及3个输出光波导的电光调制器;且电光调制器位于第一环境中,3个输出光波导分别与位于第二环境中的3个输出光纤耦合,且第一环境中的温度小于第二环境中的温度。本发明可减少光波在低温区域的耗散,从而可降低制冷能耗,同时,降低传输系统比特能耗;进一步的,电光调制器偏置在工作区域,使第一输出光波导输出最小光强,使得调制信号具有较高的消光比。

    一种超导电路低温到室温的高速信号传输装置及测试系统

    公开(公告)号:CN115877179A

    公开(公告)日:2023-03-31

    申请号:CN202211411141.3

    申请日:2022-11-11

    Abstract: 本发明涉及一种超导电路低温到室温的高速信号传输装置和测试系统,其中,传输装置包括测试杆,测试杆一端连接低温样品腔,另一端连接室温安装盒;低温样品腔内设置有低温端高频测试PCB,低温端高频测试PCB上设有超导芯片安装位和输入/输出端口,输入/输出端口与所述低温端高频测试PCB上的线路相连,输入/输出端口为SSMP连接器;室温安装盒侧面设有输入端口和输出端口,输入端口为SMA连接器,室温安装盒内设置有室温放大器,室温放大器的输入端与SMA连接器相连,输出端与输出端口相连;所述测试杆内设置有低温‑室温同轴线缆,低温‑室温同轴线缆的低温端与SSMP连接器接口相连,室温端与SMA连接器相连。本发明实现了严格意义上的高频输入/输出测试。

    马赫曾德尔电光调制器及调制方法

    公开(公告)号:CN113126332B

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202110474166.7

    申请日:2021-04-29

    Abstract: 本发明提供一种马赫曾德尔电光调制器及调制方法,包括第一2×2MMI结构、第二2×2MMI结构及2个相位调制臂,其中,相位调制臂位于所述第一2×2MMI结构及第二2×2MMI结构之间,且相位调制臂的两侧具有DC电极及RF电极,以构成包括1个输入光波导及3个输出光波导的电光调制器;且电光调制器位于第一环境中,3个输出光波导分别与位于第二环境中的3个输出光纤耦合,且第一环境中的温度小于第二环境中的温度。本发明可减少光波在低温区域的耗散,从而可降低制冷能耗,同时,降低传输系统比特能耗;进一步的,电光调制器偏置在工作区域,使第一输出光波导输出最小光强,使得调制信号具有较高的消光比。

    一种低温测试装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115542060A

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202211355788.9

    申请日:2022-11-01

    Abstract: 本发明涉及一种低温测试装置,包括样品盒、测试杆和转接盒,所述测试杆的两端分别与所述样品盒和所述转接盒可拆卸连接,所述测试杆内部中空且与所述样品盒和所述转接盒的内部连通,所述测试杆内设置有柔性传输线缆,所述柔性传输线缆集成有多个传输通道,所述样品盒设置为容纳待测试样品,所述转接盒内设置有转接头,所述转接头设置为与测试仪器电连接,所述柔性传输线缆的两端分别与所述待测试样品和所述转接头电连接,以使所述待测试样品与所述测试仪器电连接。本发明的低温测试装置,采用柔性传输线缆集成多个传输通道,体积小,装配方便;且由于其漏热低,液氦消耗小,成本低,测试效率更高。

    一种传输线结构
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112803132A

    公开(公告)日:2021-05-14

    申请号:CN201911113361.6

    申请日:2019-11-14

    Abstract: 本发明涉及电子技术领域,本发明公开了一种传输线结构,其包括介质层、第一导体层和第二导体层;该介质层设有该第一导体层和该第二导体层;该第二导体层设置于该介质层的表面;该第二导体层包括凹陷结构,该通过设计该凹陷结构的尺寸,能够提高该传输线结构的谐振频率,使该谐振频率高于最高工作频率;该第二导体层接地;上述结构能够使信号在该第一导体层与该第二导体层之间进行传输。本发明提供的传输线结构具有漏热低的特点。

    超导电路与CMOS电路之间的跨温区互联系统、超导测试电路

    公开(公告)号:CN114553210B

    公开(公告)日:2023-09-08

    申请号:CN202210168023.8

    申请日:2022-02-23

    Abstract: 本发明提供一种超导电路与CMOS电路之间的跨温区互联系统、超导测试电路,超导测试电路包括CMOS电路与跨温区互联系统;跨温区互联系统包括衰减模块、放大模块和传输线链路;所述衰减模块的输入端用于连接CMOS电路,所述衰减模块的输出端用于连接所述超导电路;所述衰减模块用于将CMOS电路的CMOS逻辑电平转化处理为超导逻辑电平;所述放大模块的输入端用于连接所述超导电路,所述衰减模块的输出端用于连接所述CMOS电路;所述放大模块用于将超导电路的超导逻辑电平转化处理为CMOS逻辑电平;所述传输线链路用于实现超导电路与CMOS电路之间跨温区的信号传输。本发明能保证测试中超导芯片的高速、动态功能实现。

    超导电路与CMOS电路之间的跨温区互联系统、超导测试电路

    公开(公告)号:CN114553210A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202210168023.8

    申请日:2022-02-23

    Abstract: 本发明提供一种超导电路与CMOS电路之间的跨温区互联系统、超导测试电路,超导测试电路包括CMOS电路与跨温区互联系统;跨温区互联系统包括衰减模块、放大模块和传输线链路;所述衰减模块的输入端用于连接CMOS电路,所述衰减模块的输出端用于连接所述超导电路;所述衰减模块用于将CMOS电路的CMOS逻辑电平转化处理为超导逻辑电平;所述放大模块的输入端用于连接所述超导电路,所述衰减模块的输出端用于连接所述CMOS电路;所述放大模块用于将超导电路的超导逻辑电平转化处理为CMOS逻辑电平;所述传输线链路用于实现超导电路与CMOS电路之间跨温区的信号传输。本发明能保证测试中超导芯片的高速、动态功能实现。

    一种信号传输线及具有信号传输功能的产品

    公开(公告)号:CN113140919A

    公开(公告)日:2021-07-20

    申请号:CN202010064571.7

    申请日:2020-01-20

    Abstract: 本发明提供了一种信号传输线及具有信号传输功能的产品,包括传输线、隔热结构和接头;所述传输线的端口连接所述隔热结构;所述隔热结构上设有至少三块用于焊接的焊盘,所述隔热结构上设有导通孔,所述导通孔内壁覆铍铜;每个所述焊盘与至少一个导通孔连通。所述接头焊接于所述焊盘上,所述接头通过所述导通孔与所述传输线连通。本发明提供的信号传输线通过在接头与传输线之间增加隔热结构并将接头与传输线通过隔热结构上的焊盘和导通孔连通,对信号传输线的漏热改善很大,对信号传输性能影响非常小,结构简单,成本低。

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