单透镜近远场基准装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104536149A

    公开(公告)日:2015-04-22

    申请号:CN201410833519.8

    申请日:2014-12-23

    CPC classification number: G02B27/30

    Abstract: 一种单透镜近远场基准装置。本发明采用单透镜同时将光束近场和远场成像在CCD上,CCD作为近、远场的共同基准,从一幅图像中既获得自动准直必须的光束的近场,又获得光束的远场,通过一幅图像就可以处理出光束与基准的偏差。与传统分离设计的近远场准直基准相比,光路更加紧凑,通过简化准直光路及减少图像处理数据量,进而提高自动准直速度。该近远场基准装置结构简单,易于实现,可有效提高自动准直图像数据获取和处理速度。

    光电探测器线性区间及其面响应特性测量装置

    公开(公告)号:CN103438993A

    公开(公告)日:2013-12-11

    申请号:CN201310371081.1

    申请日:2013-08-22

    Abstract: 一种光电探测器线性区间及其面响应特性测量装置,包括光源、第一光阑、光功率稳定器、光功率衰减器、第二光阑、分光棱镜、第一光开关、第二光开关、第一反射镜、第二反射镜、积分球、待测光电探测器、电信号放大器、数据采集卡、计算机和恒温箱,本发明装置主要采用积分球出射光照度均匀特性,利用激光光源的线宽窄、功率稳定等优点,能够实现不同光电探测器在特定波长下的直线度和面响应均匀性的精确测量,具有方便快捷、动态范围大、抗干扰性强等优点,其重复测量精度优于0.05%。

    光电探测器直线度和面响应均匀性的测量装置

    公开(公告)号:CN103292980A

    公开(公告)日:2013-09-11

    申请号:CN201310185354.3

    申请日:2013-05-17

    Abstract: 一种光电探测器直线度和面响应均匀性的测量装置,由光源部分、器件部分和仪器设备三部分组成。光源部分由1053nm的带尾纤激光器、光纤衰减器和光纤准直器组成。器件部分由光阑、1/4波片、楔镜、反射镜、功率衰减器、偏振分光棱镜、光开关和BNC-T型头组成。仪器设备部分由斩波器、锁相放大器、恒温箱、标准探测器、待测探测器、数据采集卡和计算机组成。本发明采用双光路叠加法原理,利用激光光源的窄线宽等优点,能够实现不同光电探测器在特定波长下的直线度和面响应均匀性的精确测量,具有运行稳定、抗干扰性强、动态范围大、测量方便快捷等优点,重复测量精度优于0.08%。

    一种大口径脉冲激光时间同步测量装置

    公开(公告)号:CN117930498A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202311759776.7

    申请日:2023-12-20

    Abstract: 一种大口径脉冲激光时间同步测量装置,包括:分光系统,用于将种子光束分为N束小口径光束;N个光束传输系统,用于将N束小口径光束转化为N束大口径光束;至少N‑1个延时调节器,用于对N‑1束大口径光束延时进行调节;N个光阑,用于将N束大口径光束部分通过光阑转化为N束限口径小光束;N个聚焦系统,用于将N束限口径小光束汇聚于靶点形成叠加光斑;相机,位于所述靶点位置,用于记录与监测所述叠加光斑,并传输至计算机;计算机,分别与所述延时调节器和相机相连,根据光斑叠加图样判断光束间同步情况,并控制所述延时调节器实现不同光束到靶时间同步。本发明结构简单,成本低廉,无需对现有装置进行较大改动即可实现束间精密同步测量。

    一种光学相位和延时调节装置
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117631259A

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202311552947.9

    申请日:2023-11-21

    Abstract: 一种光学相位和延时调节装置,包括第一楔板、第二楔板、供第一楔板放置的第一平移机构以及供第二楔板放置的第二平移机构;所述第一楔板的楔角大小与所述第二楔板的楔角大小相等,且二者材料相同。本发明通过互相配合、不同控制精度和行程的位移台实现大行程高精度的光程控制,可同时实现光脉冲的时间延时调节和相位调节结构。该装置结构简单易于实现,且在插入光路前后以及调节过程中均不会引入光束指向改变,特别适用于空间光的时间延时调节和相位调节。

    基于双焦透镜的远场基准装置及远场准直方法

    公开(公告)号:CN116661162A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310618295.8

    申请日:2023-05-29

    Abstract: 一种基于双焦透镜的远场基准装置。光束通过双焦透镜后,在图像探测器上获得两种角度放大率的光斑。通过低角度放大率的主光斑以实现数毫弧度的观察视场,高角度放大率的次光斑以保证微弧度的准直精度,兼顾了高精度与大视场,集成该双焦透镜镜头的一套成像系统即可满足远场准直的需求,极大降低了远场自动准直的复杂度及对精密装调和机械结构长期稳定性的要求。

Patent Agency Ranking