公开(公告)号：CN103335821B

公开(公告)日：2016-02-10

申请号：CN201310250418.3

申请日：2013-06-21

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 曾爱军 ,  邓柏寒 ,  刘龙海 ,  朱玲琳 ,  黄惠杰

IPC: G01M11/02

Abstract: 一种四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法，该装置由准直光源、圆起偏器、光弹调制器、圆检偏器、光电探测器、光弹控制器、锁相放大器和计算机组成。本发明只需一个光弹调制器即可测量四分之一波片的相位延迟量，只需要一个锁相放大器，装置简单，结构紧凑，操作方便。

公开(公告)号：CN103308175B

公开(公告)日：2015-05-13

申请号：CN201310250980.6

申请日：2013-06-21

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 曾爱军 ,  刘龙海 ,  邓柏寒 ,  朱玲琳 ,  黄惠杰

IPC: G01J4/04

Abstract: 一种线性双折射测量装置与方法，该装置包括光源模块和测量模块，光源模块由准直光源、起偏器、光弹调制器、光弹控制器和一维光栅组成，测量模块由两个检偏器、两个光电探测器、两个锁相放大器和计算机组成。本发明光源模块和测量模块位于待测双折射样品的同一端，可以通过单端扫描测量双折射样品的相位延迟量分布和快轴方位角分布，同时测量光束两次通过双折射样品，测量精度提高一倍。

公开(公告)号：CN103335821A

公开(公告)日：2013-10-02

申请号：CN201310250418.3

申请日：2013-06-21

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 曾爱军 ,  邓柏寒 ,  刘龙海 ,  朱玲琳 ,  黄惠杰

IPC: G01M11/02

Abstract: 一种四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法，该装置由准直光源、圆起偏器、光弹调制器、圆检偏器、光电探测器、光弹控制器、锁相放大器和计算机组成。本发明只需一个光弹调制器即可测量四分之一波片的相位延迟量，只需要一个锁相放大器，装置简单，结构紧凑，操作方便。

公开(公告)号：CN103308175A

公开(公告)日：2013-09-18

申请号：CN201310250980.6

申请日：2013-06-21

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 曾爱军 ,  刘龙海 ,  邓柏寒 ,  朱玲琳 ,  黄惠杰

IPC: G01J4/04

Abstract: 一种线性双折射测量装置与方法，该装置包括光源模块和测量模块，光源模块由准直光源、起偏器、光弹调制器、光弹控制器和一维光栅组成，测量模块由两个检偏器、两个光电探测器、两个锁相放大器和计算机组成。本发明光源模块和测量模块位于待测双折射样品的同一端，可以通过单端扫描测量双折射样品的相位延迟量分布和快轴方位角分布，同时测量光束两次通过双折射样品，测量精度提高一倍。