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公开(公告)号:CN119519810A
公开(公告)日:2025-02-25
申请号:CN202411610570.2
申请日:2024-11-12
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明涉及卫星测控遥测数据处理技术领域,提供了一种遥测误码基准帧的挑路方法。本发明通过获取遥测任务参数信息,按波道显示接收的PCM解调数据,通过遥测帧同步码组位置和帧同步码组长度,或手动勾选方式得到波道总数和波道序号,从接收到的PCM解调数据中挑选对应波道的帧数据做从字节级到比特级精确递增的比对匹配,获取遥测误码比对基准帧。本方法可以兼容实时数据处理系统和事后数据处理系统,极大的提高了遥测误码基准帧挑路的精确度,并解决了人工勾选比对区域存在误码导致基准帧挑选流程陷入死循环的问题。
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公开(公告)号:CN119483676A
公开(公告)日:2025-02-18
申请号:CN202411432322.3
申请日:2024-10-14
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明公开了一种共形阵面天线通道中场外校正装置及方法,包括第一阵面、第二阵面、第三阵面、第四阵面、第五阵面、外校正天线探头,第一阵面、第二阵面、第三阵面、第四阵面、第五阵面上均设置有多个天线阵元;多个天线阵元一一对应多个发射通道和多个接收通道;外校正天线探头沿第二阵面的中心法线布置时,外校正天线探头的接收端/发射端与第一阵面、第二阵面、第三阵面的多个发射通道/接收通道均通信连接;外校正天线探头沿第四阵面的中心法线布置时,外校正天线探头的接收端/发射端与第三阵面、第四阵面、第五阵面的多个发射通道/接收通道均通信连接。本申请的装置及方法实现了共形阵面天线通道的中场外校正,消除了外校正的系统误差。
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公开(公告)号:CN114265025B
公开(公告)日:2024-08-06
申请号:CN202111481065.9
申请日:2021-12-06
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明公开了一种宽带相控阵系统自动化波瓣测试与角度零值标校装置,包括升降式标校杆、标校喇叭、数字化阵列天线及波瓣测试与角度零值标校装置,升降式标校杆上固定标校喇叭,波瓣测试与角度零值标校装置分别与标校喇叭以及数字化阵列天线连接;波瓣测试与角度零值标校装置包括触发脉冲生成模块、标校信号生成模块、数据采集计算模块和波束指向控制模块,触发脉冲生成模块生成波位切换脉冲和频率切换脉冲,并将波位切换脉冲、频率切换脉冲发送给标校信号生成模块和数据采集计算模块,将波位切换脉冲发送给波束指向控制模块;本发明的优点在于:提供一种无塔条件下的自动化波瓣测试与角度零值标校装置。
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公开(公告)号:CN109462460A
公开(公告)日:2019-03-12
申请号:CN201811405718.3
申请日:2018-11-23
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
IPC: H04L1/24
Abstract: 本发明公开了一种自带AD9361芯片的系统的多通道测试方法及装置,配置AD9361模块,进入校正模式,由信号源发射正交单音信号;利用AD9361模块的发射功能发射单音信号,同时利用系统自带的多个AD9361通道进行校正数据的接收;对所有通道接收数据进行计算,然后进入验证模式,由信号源发送单载波信号;利用AD9361模块的发射和接受验证数据,利用计算得到的每个通道的延迟、幅度和相位值,对每个通道进行参数补偿;对验证数据进行接收和观察,如果接收到的信号对应的延迟、幅度和相位完全一致,则说明测试方法有效。本发明提出的方法通用性高,不需要额外的硬件设计,仅需要提供合理的计算资源即可;本发明提出的方法简单易行,能够满足各种场景下的使用需求。
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公开(公告)号:CN104833863B
公开(公告)日:2017-05-31
申请号:CN201510263290.3
申请日:2015-05-21
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明公开了一种高频相控阵天线的远场暗室测试系统及方法,包括暗室转台,用于放置并旋转待测天线,暗室接收端,用于调节接收天线方位,将采集的信号传输到数据采集与融合模块;波控模块,用于传输波控信号到待测天线,开启或关闭待测天线的子阵面天线;数据采集与融合模块,将待测天线分割为多个规则子阵面,通过波控模块开启其中一个子阵面天线的发射组件,关闭其他子阵面对应的发射组件,调整暗室接收端的方位,完成对该子阵面方向图的测试,依次测试所有子阵面方向图,得到整体天线的合成方向图。解决一般远场暗室测试受限于距离、空间等因素,无法进行高频相控阵天线测试的问题。该发明可应用于通信、测控等多个领域。
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公开(公告)号:CN104954084A
公开(公告)日:2015-09-30
申请号:CN201510263629.X
申请日:2015-05-21
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明公开了一种卫星通信天线动态指向通用测试系统及方法,包括通用测试转台,用于放置待测天线并模拟待测天线实际应用中的姿态变化;喇叭收发系统,用于接收待测天线发射的天线信号并传输至功率记录设备,或者将信号发生器的发射信号传输至待测天线;信号发生器,用于将发射信号发射至喇叭收发系统;功率记录设备,用于记录喇叭收发系统接收到的待测天线发射的信号功率值,或者用于记录待测天线接收到的信号功率值。本发明测试环境搭建简单,只要是满足天线远场测试即可;本发明设计的设备都是简易通用设备,系统搭建简单,价格便宜,且能够兼容多种天线;本发明能够实现相控阵扫描天线的动态性能测试。
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公开(公告)号:CN104833863A
公开(公告)日:2015-08-12
申请号:CN201510263290.3
申请日:2015-05-21
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明公开了一种高频相控阵天线的远场暗室测试系统及方法,包括暗室转台,用于放置并旋转待测天线,暗室接收端,用于调节接收天线方位,将采集的信号传输到数据采集与融合模块;波控模块,用于传输波控信号到待测天线,开启或关闭待测天线的子阵面天线;数据采集与融合模块,将待测天线分割为多个规则子阵面,通过波控模块开启其中一个子阵面天线的发射组件,关闭其他子阵面对应的发射组件,调整暗室接收端的方位,完成对该子阵面方向图的测试,依次测试所有子阵面方向图,得到整体天线的合成方向图。解决一般远场暗室测试受限于距离、空间等因素,无法进行高频相控阵天线测试的问题。该发明可应用于通信、测控等多个领域。
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公开(公告)号:CN118244631B
公开(公告)日:2024-10-29
申请号:CN202410206367.2
申请日:2024-02-26
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
IPC: G05B13/04
Abstract: 本发明提供一种机动平台下的目标跟踪方法,属于飞行器测控领域,基于机动式测控系统的空域覆盖能力,获取该空域的测角结果;对测角结果进行预处理,得到预处理后的测角数据;获取当前测角时刻的站址姿态信息,包括经度、纬度、高程、偏航角、俯仰角和横滚角;计算前后帧平台站址姿态角变化造成的角度偏差;对预处理后的测角数据进行目标一次滤波预测处理,得到一次滤波预测处理后的数据;将一次滤波预测处理后的数据和角度偏差作为新的观测值进行二次滤波预测处理,得到下一跟踪时刻滤波预测后的目标角度;利用二次滤波预测处理后的数据控制电波束指向目标,实现目标的连续稳定跟踪;还提供一种机动平台下的目标跟踪装置,实现目标的稳定跟踪。
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公开(公告)号:CN112504278B
公开(公告)日:2023-03-24
申请号:CN202011336011.9
申请日:2020-11-25
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
IPC: G01C21/20
Abstract: 本发明提供了一种机动测控站导航规划方法,包括以下步骤:步骤A:基于机动测控站空域覆盖能力和待执行任务的工作需求,确定起始点、目的地和任务参数;步骤B:获取起始点到目的地可能的线路信息,得到候选线路,提取导航路径信息;步骤C:将每一个候选线路划分为多个量化处理单元,计算测控能力值并进行叠加;步骤D:以测控能力值最优的路径作为规划路径输出。本发明的优点在于:通过电子交通地图获取多条候选路径,并通过量化处理单元对候选路径进行划分,对每个量化处理单元统计测控能力值并进行加和,从而基于微积分思想对整个候选路径的测控能力值进行计算,由此获得所有候选路径的测控能力值,得到最优的候选路径,实现最优路径规划。
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公开(公告)号:CN109274468A
公开(公告)日:2019-01-25
申请号:CN201811405743.1
申请日:2018-11-23
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
IPC: H04L1/24
Abstract: 本发明公开了一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法及系统,信号源发射连续的测试信号,包括I路发送的单载波信号和Q路发送的0信号;对测试信号进行相位旋转,其中旋转的相位角度按一定的间隔遍历360°,并将该信号发送给待测试通道;对待测试通道的信号进行大量采样,然后分别进行定量和定性分析。本发明提出的测试系统和测试方法,对于不同的系统,既可以通过简单的定性分析迅速得出通道的大体性能,又可以通过定量分析,满足不同通信系统的精细要求。同时测试方法简单,降低测试难度,简化了测试系统,使得能够集成在各种通信系统中,提高测试方法的通用性。
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