公开(公告)号：CN117148027B

公开(公告)日：2024-01-30

申请号：CN202311424364.8

申请日：2023-10-31

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 王宏跃 ,  钱浩权 ,  邓锐 ,  方健 ,  周斌 ,  贺致远 ,  陈义强

IPC: G01R31/00

Abstract: 本申请涉及一种电迁移测试装置，包括金属连接体、样品及电流表。样品的背面与金属连接体连接，正面与电源的负极电性连接，金属连接体与电源的正极电性连接。将电迁移测试装置放置于高温箱中，同时施加电压，使得金属连接体中的金属离子在电势以及温度的共同作用下发生迁移，即从样品的背面向样品的正面迁移。由于电流表串联于金属连接体、样品、正极以及负极连接形成的电路中，这样电流表能够检测漏电流，当漏电流达到预设值时，表示样品失效，此时失效时间为该条件下样品的电迁移寿命，以此来评估电迁移的情况。该电迁移测试装置更贴合于实际工况下的金属连接体中的金属离子电迁移

公开(公告)号：CN117148027A

公开(公告)日：2023-12-01

申请号：CN202311424364.8

申请日：2023-10-31

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 王宏跃 ,  钱浩权 ,  邓锐 ,  方健 ,  周斌 ,  贺致远 ,  陈义强

IPC: G01R31/00

Abstract: 本申请涉及一种电迁移测试装置及方法。电迁移测试装置包括金属连接体、样品及电流表。样品的背面与金属连接体连接，正面与电源的负极电性连接，金属连接体与电源的正极电性连接。将电迁移测试装置放置于高温箱中，同时施加电压，使得金属连接体中的金属离子在电势以及温度的共同作用下发生迁移，即从样品的背面向样品的正面迁移。由于电流表串联于金属连接体、样品、正极以及负极连接形成的电路中，这样电流表能够检测漏电流，当漏电流达到预设值时，表示样品失效，此时失效时间为该条件下样品的电迁移寿命，以此来评估电迁移的情况。该电迁移测试装置更贴合于实际工况下的金属连接体中的金属离子电迁移方式的评估手段，有利于提高评估的可靠性。