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公开(公告)号：CN118332994A
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202410493593.3
申请日：2024-04-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/367
Abstract: 本公开提供了一种单粒子瞬态脉冲拟合方法、装置、设备及介质，涉及电路仿真技术领域，包括获取带电辐射粒子入射至纳米器件的第一时间参数和第二时间参数；根据第一时间参数，得到用于拟合单粒子瞬态脉冲的峰值电流的第一双指数模型；根据第二时间参数，得到用于拟合单粒子瞬态脉冲的长尾电流的第二双指数模型；根据第一双指数模型和第二双指数模型，得到单粒子瞬态脉冲的拟合模型。本公开将带电辐射粒子入射至纳米器件的过程分为两部分，通过构建两个双指数模型，实现对单粒子瞬态脉冲的精确模拟，提高了纳米级器件的拟合效果。
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