-
公开(公告)号:CN119437650A
公开(公告)日:2025-02-14
申请号:CN202411379675.1
申请日:2024-09-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种全局控温的激光扫描振镜寿命试验装置及试验方法,全局控温的激光扫描振镜寿命试验装置包括安装夹具、控温装置、激光器和位置探测器,控温装置包括箱体和控温单元,安装夹具位于箱体内,通过安装夹具将扫描振镜组件固定于箱体内,控制单元对箱体内进行加热控温,从而实现对扫描振镜组件所处的温度环境进行调整,进而配合激光器和位置探测器检测扫描振镜组件的耐环境适应能力,从而保证扫描振镜组件的产品质量。
-
公开(公告)号:CN118363712A
公开(公告)日:2024-07-19
申请号:CN202410405886.1
申请日:2024-04-07
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F9/455 , G06F40/186 , G06F9/445
Abstract: 本申请涉及一种嵌入式示例工程自动生成方法、装置、设备和存储介质。方法包括:从预设驱动程序库中获取主控芯片和外设芯片分别对应的预设驱动工程模板;并将主控芯片和外设芯片的配置和连接进行硬件抽象描述,得到硬件抽象文件。进一步地,根据硬件抽象文件与主控芯片和外设芯片分别对应的预设驱动工程模板,生成嵌入式示例工程。本申请中,通过硬件抽象文件和预设驱动工程模板,生成完整的嵌入式示例工程,从而可以提高嵌入式软件的开发效率。
-
公开(公告)号:CN119469677A
公开(公告)日:2025-02-18
申请号:CN202411384876.0
申请日:2024-09-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种局部控温的激光扫描振镜寿命试验装置及试验方法,局部控温的激光扫描振镜寿命试验装置包括试验台、激光振镜组件、温度调节机构、激光器和位置探测器,温度调节机构包括加热风扇和热风管,通过将热风管一端与加热风扇的输出端固定连通,热风管的另一端套设在激光振镜组件外,实现对激光振镜组件的集中加热,并且通过不同规格的加热管配合不同规格的激光振镜组件,从而实现对激光振镜组件的温度进行调节,进而配合激光器和位置探测器检测激光振镜组件的耐环境适应能力。
-
-