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公开(公告)号:CN119781830A
公开(公告)日:2025-04-08
申请号:CN202411920411.2
申请日:2024-12-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F9/30
Abstract: 本申请涉及一种指令识别方法、装置、设备、可读存储介质和程序产品。所述方法包括:首先,根据目标处理器的指令格式,生成待测指令列表,然后,对待测指令列表进行反汇编处理,根据反汇编处理结果确定目标处理器的未定义指令列表,最后,获取目标处理器对未定义指令列表的执行结果,根据执行结果确定隐藏指令。采用本方法能够识别目标处理器的指令格式,生成待测指令列表,然后对待测指令列表反汇编处理,筛选出未定义指令列表,获取目标处理器对未定义指令列表的执行结果得到隐藏指令,这样,生成待测指令列表时无需遍历整个指令空间,提高了隐藏指令识别的效率。
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公开(公告)号:CN119557928B
公开(公告)日:2025-05-02
申请号:CN202510112208.0
申请日:2025-01-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F21/71 , G06N20/00 , G06F18/213 , G06F18/243
Abstract: 本发明公开了一种芯片安全机制测评方法和计算机设备,所述方法包括:获取同系列历史型号芯片的测试数据;提取历史型号芯片的测试数据的特征变量,建立基于机器学习的预测模型,用于评估芯片安全机制有效性;获取与样本数据同样数据结构的新型号芯片的测试数据;将新型号芯片的测试数据输入所建立的预测模型进行预测,输出预测结果作为芯片安全机制有效性的指标。本发明能够针对同系列新型号芯片实现快速功能安全检测评估,显著提升新型号芯片在小样本场景下的功能安全检测效率与稳定性。
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公开(公告)号:CN119557928A
公开(公告)日:2025-03-04
申请号:CN202510112208.0
申请日:2025-01-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F21/71 , G06N20/00 , G06F18/213 , G06F18/243
Abstract: 本发明公开了一种芯片安全机制测评方法和计算机设备,所述方法包括:获取同系列历史型号芯片的测试数据;提取历史型号芯片的测试数据的特征变量,建立基于机器学习的预测模型,用于评估芯片安全机制有效性;获取与样本数据同样数据结构的新型号芯片的测试数据;将新型号芯片的测试数据输入所建立的预测模型进行预测,输出预测结果作为芯片安全机制有效性的指标。本发明能够针对同系列新型号芯片实现快速功能安全检测评估,显著提升新型号芯片在小样本场景下的功能安全检测效率与稳定性。
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公开(公告)号:CN119471297A
公开(公告)日:2025-02-18
申请号:CN202411452590.1
申请日:2024-10-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及一种芯片测试方法、电子设备、可读存储介质和程序产品。方法包括:向故障注入系统发送同步请求信号并请求注入故障脉冲;开始运行故障响应程序,并在运行故障响应程序的过程中接收故障注入系统所注入的故障脉冲;其中,运行故障响应程序包括:对内部集成有数据校验和纠正功能的各模块进行顺序操作,并在故障脉冲的作用下针对各模块进行数据校验;若在故障脉冲的作用下异常,响应故障注入系统发送的复位信号后复位,将复位后的第一次数据校验结果发送至故障注入系统,以第一次数据校验结果为异常时的数据校验结果。采用本方法能够解决硬件故障注入方法中,在高能量的故障注入下难以用于ECC的功能验证的问题。
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