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公开(公告)号：CN117390384A
公开(公告)日：2024-01-12
申请号：CN202311263400.7
申请日：2023-09-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F18/20 , G06Q10/063 , G06Q10/0639
Abstract: 本申请涉及一种环境严酷度等级的确定方法、装置、设备和存储介质。所述方法包括：获取目标区域在目标时段内至少两个环境影响因素的实测环境数据；根据各环境影响因素对应的严酷度分级标准，以及各环境影响因素的实测环境数据，确定各环境影响因素在其对应的每一严酷度等级下的作用时长；根据各环境影响因素在其对应的每一严酷度等级下的作用时长，确定各环境影响因素的目标严酷度值；根据各环境影响因素的目标严酷度值，确定所述目标区域的环境严酷度等级。采用本方法能够提高气候环境严酷度等级评价结果的有效性和指导性。
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公开(公告)号：CN109165790A
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201811028479.4
申请日：2018-09-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种光电耦合器自然贮存寿命预测方法，包括以下步骤：确定光电耦合器的长期贮存敏感参数；针对所确定的敏感参数的监测数据建立敏感参数预测模型；利用所述敏感参数的实际监测值来检验所述敏感参数预测模型的预测误差；如果所述敏感参数预测模型通过检验，则利用所述预测模型来进行光电耦合器的自然贮存寿命预测。本发明能够实现光电耦合器的自然贮存寿命的预测，为军工产品的定延寿、维修提供依据。
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公开(公告)号：CN109507102A
公开(公告)日：2019-03-22
申请号：CN201811467040.1
申请日：2018-12-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N17/02
CPC classification number: G01N17/02
Abstract: 本发明涉及一种涡轮叶片用合金材料耐高湿热海洋大气性能的试验方法，包括步骤：将涡轮叶片用合金材料样品在高湿热海洋大气环境中进行棚下环境试验；将结束所述棚下环境试验后的合金材料进行燃烧室排放物模拟介质涂覆后，于氧化性氛围中煅烧，进行热氧化试验；及将结束所述热氧化试验的合金材料重复且交替进行所述棚下环境试验和所述热氧化试验。该试验方法综合考虑了复杂南海大气环境的高温、高湿、高盐雾、强太阳辐射等因素及涡轮叶片本身在工作过程中所处的热因素，能够较准确地评价发动机的涡轮的叶片耐高湿热海洋大气环境性能，从而可为航空发动机涡轮叶片的研制和设计提供有利的技术支撑。
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公开(公告)号：CN117708259A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311817547.6
申请日：2023-12-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F16/29 , G06F16/248 , G06Q10/0875 , G06Q10/10
Abstract: 本申请涉及一种电子元器件的可靠性地图构建方法、装置及计算机设备，涉及电子器件技术领域。包括：根据地图内各地区气候条件，确定适合贮存的至少一个地区；获取电子元器件在各地区贮存的情况下相应的可靠性参数，可靠性参数用于表征电子元器件在相应地区贮存下的有效程度；基于地理信息系统、至少一个地区和各地区相应的可靠性参数，绘制电子元器件贮存相应的可靠性信息地图，并显示可靠性信息地图。由于可将各地区贮存电子元器件时相应的可靠性参数，通过可靠性信息地图的方式进行显示，从而可以便于相关工作人员更直观获取各地区的气候条件适配贮存的程度，以为电子元器件的选用、相关设备的延寿和修理提供技术支撑。
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公开(公告)号：CN109443920A
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201811467032.7
申请日：2018-12-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种环境-拉力耦合试验装置、系统和方法。环境-拉力耦合试验装置，包括：应力环，上夹具，下夹具，第一可调固定件和第二可调固定件；上夹具的一端连接待测试样的一端，下夹具的一端连接待测试样的另一端；上夹具的另一端穿过应力环，下夹具的另一端穿过应力环，且上夹具的轴线和下夹具的轴线处于应力环的同一条直径上；第一可调固定件与上夹具穿出应力环的部分匹配连接，第二可调固定件与下夹具穿出应力环的部分匹配连接，第一可调固定件和第二可调固定件之间的相对距离可调，使得应力环的载荷达到目标载荷，目标载荷为测量待测试样的性能所需的载荷。本申请提供的试验装置调整好载荷后，不依赖千分尺等应力测量设备，试验可靠性高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119513752A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411371013.X
申请日：2024-09-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F18/2433 , G06F18/213 , G06F9/50
Abstract: 本申请涉及一种寿命特征参数确定方法、装置、设备、存储介质和产品。所述方法包括：通过获取目标电子元器件的各性能参数的第一检测数据和第二检测数据，基于第一检测数据、第二检测数据、各性能参数在目标电子元器件初始状态下的技术要求值，以及预设时长，确定各性能参数的失效时间，然后从各性能参数中，根据各性能参数的失效时间，确定了寿命特征参数，从而能够提高寿命特征参数确定的准确性。并且，本申请实施例中提供的寿命特征参数确定方法简化了寿命特征参数确定计算步骤，节约了计算资源，提高了寿命特征参数确定的效率。
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公开(公告)号：CN110793906A
公开(公告)日：2020-02-14
申请号：CN201810877939.4
申请日：2018-08-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种测试干热环境下涂层的耐候性的方法及其系统，该方法包括以下步骤：将涂层依次进行耐老化试验和耐温度冲击试验，并循环3～9次；耐老化试验为紫外光老化试验，紫外光老化试验的试验条件为：辐射强度0.89W/m2～1.10W/m2@340nm、黑板温度50℃～50℃、每次循环的试验时长200h～270h；耐温度冲击试验的试验条件为：高温阶段温度50℃～80℃、低温阶段温度-40℃～-20℃、温度变化速率0.8℃/m/n～1.2℃/m/n、暴露持续时间0.5h～1.5h、每次循环中温度变化试验开展周期为3～9次。上述方法可以准确地测定涂层在干热环境下的耐候性。
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公开(公告)号：CN109146307A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201811028764.6
申请日：2018-09-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法，包括以下步骤：对电子元器件的性能参数监测数据进行变化显著性判定；对于随贮存时间有显著变化的性能参数，根据性能参数监测数据判定性能参数随时间的变化趋势；根据性能参数随时间的变化趋势，结合性能参数的技术要求值，判断性能参数是否为寿命特征参数。本发明能够实现电子元器件的贮存寿命特征参数的评估，可为产品的定延寿、维修提供依据。
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公开(公告)号：CN109344362A
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201811028478.X
申请日：2018-09-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种电子元器件自然库房贮存敏感应力定量评估方法，包括以下步骤：确定电子元器件的自然库房贮存的环境因素；确定所述电子元器件的性能参数的退化量；建立环境因素对性能参数的关联矩阵，所述关联矩阵的每个元素表示性能参数与环境因素的关联度；根据所述电子元器件的性能参数数据和环境因素数据计算所述关联矩阵的值；根据所述关联矩阵的值，确定与某一性能参数关联度最大的环境因素，作为该性能参数的敏感应力。本发明能够实现电子元器件自然库房贮存敏感应力的定量评估，可为装备的设计、定延寿、维修、贮存管理提供依据。
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公开(公告)号：CN109325270A
公开(公告)日：2019-02-12
申请号：CN201811028480.7
申请日：2018-09-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种磁控管自然贮存寿命预测方法，包括以下步骤：确定磁控管的自然贮存寿命特征参数；确定所述寿命特征参数中退化较快的寿命特征参数；对所述退化较快的寿命特征参数的退化数据组成的序列建立磁控管寿命预测模型；检验所述寿命预测模型的预测精度，判断所述寿命预测模型是否可用；如果所述寿命预测模型可用，则利用所述寿命预测模型来进行磁控管的自然贮存寿命预测。本发明能够实现磁控管的自然贮存寿命的预测，为军工产品的定延寿、维修提供依据。
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