测量装置及测量方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111417834A

    公开(公告)日:2020-07-14

    申请号:CN201880076721.7

    申请日:2018-12-27

    Abstract: 提供一种能够基于来自测量对象的电磁波反射强度以非接触方式高精度地测量各种参数的测量装置及其关联技术。提供一种测量装置及其关联技术,所述测量装置为不与测量对象接触的非接触式,并包括:检测器,测量来自被照射有电磁波的测量对象的电磁波反射强度;距离计,计测距测量对象的距离;以及偏离角度计测机构,计测测量对象与测量装置偏离正对的偏离角度。

    测量装置及测量方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111417834B

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN201880076721.7

    申请日:2018-12-27

    Abstract: 提供一种能够基于来自测量对象的电磁波反射强度以非接触方式高精度地测量各种参数的测量装置及其关联技术。提供一种测量装置及其关联技术,所述测量装置为不与测量对象接触的非接触式,并包括:检测器,测量来自被照射有电磁波的测量对象的电磁波反射强度;距离计,计测距测量对象的距离;以及偏离角度计测机构,计测测量对象与测量装置偏离正对的偏离角度。

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