抗辐射干扰瞬态x射线测量装置

    公开(公告)号:CN113358669A

    公开(公告)日:2021-09-07

    申请号:CN202110616792.5

    申请日:2021-06-03

    Abstract: 本发明公开了一种抗辐射干扰瞬态x射线测量装置,包括:无源模块,其包括壳体组件,以及位于所述壳体组件内部的半导体感应芯片、第一准直镜和第二准直镜,所述第一准直镜与半导体感应芯片之间设有入射光路,所述半导体感应芯片与第二准直镜之间设有反射光路;有源模块,其安装在壳体组件远离所述半导体感应芯片的一端,所述有源模块包括舱体,以及位于舱体内部的光纤激光器、第三准直镜和图像传感器,其中,光纤激光器与所述第一准直镜之间连接有第一光纤,第三准直镜所述第二准直镜之间连接有第二光纤,所述第三准直镜与图像传感器之间设有接收光路。本发明解决了在多种辐射干扰下对聚变目标进行X射线瞬态成像的技术难题。

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