变锥面弯晶与X射线条纹相机高精度动态耦合方法及装置

    公开(公告)号:CN120009316A

    公开(公告)日:2025-05-16

    申请号:CN202510503865.8

    申请日:2025-04-22

    Abstract: 本发明涉及激光成像技术领域,具体涉及变锥面弯晶与X射线条纹相机高精度动态耦合方法及装置,所述方法包括:在相同光路下,分别利用可见光源和X射线照射变锥面弯晶,使所述变锥面弯晶在成像板上分别形成可见光源聚焦线和X射线聚焦线;通过图像采集装置获取可见光源聚焦线和X射线聚焦线的位置信息,并提取聚焦线相对偏差;将变锥面弯晶与X射线条纹相机通过三维调整机构耦合,并利用可见光源持续照射变锥面弯晶;根据图像采集装置和聚焦线相对偏差,通过三维调整机构调节变锥面弯晶的位置,使X射线聚焦线与X射线条纹相机的阴极狭缝重合。其目的在于,实现变锥面弯晶与X射线条纹相机的高精度耦合。

    一种时空分辨的高温大能量超热电子诊断方法及装置

    公开(公告)号:CN119413306A

    公开(公告)日:2025-02-11

    申请号:CN202411506587.3

    申请日:2024-10-28

    Abstract: 本发明公开了一种时空分辨的高温大能量超热电子诊断方法及装置,超热电子源轰击到金属靶上产生韧致辐射,经过前滤片过滤和针孔阵列板上的微针孔后达到荧光片上,大部分X光经过滤和衰减后穿过荧光片继续传播,部分与荧光片相互作用产生各个方向都发射的荧光,安装具有时间响应的探测器收集并记录荧光同时通过后滤片过滤软能荧光,在透射方向安装成像滤片和成像记录面,记录透射后的X光的空间分布。结合荧光总强度和透射X光的总强度通道响应函数对超热电子温度、能量进行拟合,并根据荧光信号的时间行为和透射X光的空间分布行为反推超热电子的时空行为。本发明能同时对超热电子的温度、能量、时间行为和空间分布进行诊断。

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