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公开(公告)号：CN119939166A
公开(公告)日：2025-05-06
申请号：CN202510110468.4
申请日：2025-01-23
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本发明公开了一种激光元件中频误差对光束质量影响的评价方法，涉及光学加工技术领域，包括以下步骤：获取光学元件表面面形，并对所述光学元件表面面形进行二维傅里叶变换；将变换后的所述光学元件表面面形矢高对应功率谱密度进行频谱分析，得到中高频周期级次项；基于筛选结果，选择表征函数，并根据周期波纹在坐标系下的分布情况，选择对应的函数次级，以构建函数面；将构建的函数面与原始面形进行拟合，得到所述表征函数各级次系数，并通过所述系数完成光学元件上分空间周期的不同频段误差的表征。该表征方法解决了现有中高频频段误差表征方式无法按不同空间频率与幅度分开并研究其影响，对光学加工的指导能力有限的问题。
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公开(公告)号：CN113960744B
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202111307820.1
申请日：2021-11-05
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: G02B7/18
Abstract: 本发明公开了一种用于装夹楔形镜的夹具、楔形镜及一种光学器件，用于装夹楔形镜的夹具，包括固定组件和用于套装楔形镜的直镜筒；直镜筒的内孔设置有用于单向限位的楔形镜斜面侧的斜向凸环；固定组件设置于直镜筒的一端，固定组件用于与楔形镜平面侧抵接，使楔形镜斜面侧与斜向凸环紧密贴合。采用本用于装夹楔形镜的夹具，将直镜筒内的斜向凸环作为定位和夹紧面，相比于传统的楔形镜的圆柱端面作为定位和夹紧面而已，不仅在轴向和径向上均进行了定位，并且直镜筒内的斜向凸环作为夹紧面，有效避免楔形镜薄端与直镜筒的筒壁发生接触导致应力集中。
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公开(公告)号：CN110136215A
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201910430190.3
申请日：2019-05-22
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本发明公开了一种磁流变抛光斑提取方法，本发明的方法利用人类大脑视觉皮层中的双拮抗神经元的色彩和空间对抗机制对磁流变抛光斑进行边缘检测并进行提取，并利用该神经元的空间稀疏反应约束特点来抑制磁流变抛光斑中的噪声信号和其他干扰信息；本发明解决了目前人工手动提取磁流变抛光斑存在精度不够高、提取效率低问题，具有鲁棒性好、自动化程度高优点，提高了抛光工艺过程控制的准确性和可靠性。
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公开(公告)号：CN111451880B
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN202010316643.2
申请日：2020-04-21
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本发明公开一种AB双工具摆五轴磁流变抛光机床结构参数标定方法，建立实际坐标系与理想坐标系之间的坐标变换关系，以及建立测点在实际坐标系中位置坐标的测量模型，通过坐标变换关系将测点从实际坐标系转换到理想坐标系。通过本发明提出的实际坐标系建立及测点位置测量方法，避免了对标准块进行打表调平及找正，整个测量过程可实现完全自动化，有效解决了传统打标测量引起的精度受人工经验影响且等问题，提高了结构参数标定的效率及精度。
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公开(公告)号：CN111451880A
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN202010316643.2
申请日：2020-04-21
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本发明公开一种AB双工具摆五轴磁流变抛光机床结构参数标定方法，建立实际坐标系与理想坐标系之间的坐标变换关系，以及建立测点在实际坐标系中位置坐标的测量模型，通过坐标变换关系将测点从实际坐标系转换到理想坐标系。通过本发明提出的实际坐标系建立及测点位置测量方法，避免了对标准块进行打表调平及找正，整个测量过程可实现完全自动化，有效解决了传统打标测量引起的精度受人工经验影响且等问题，提高了结构参数标定的效率及精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111426614A
公开(公告)日：2020-07-17
申请号：CN202010362877.0
申请日：2020-04-30
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于互感法的磁流变抛光液铁粉浓度检测装置，包括检测线圈和参考线圈；检测线圈的初级线圈和参考线圈的初级线圈同向串联连接，检测线圈的次级线圈和参考线圈的次级线圈反向串联连接，检测线圈和参考线圈构成差动结构；检测线圈用于套设在流通磁流变液的抛光液循环管路外；参考线圈用于套设在无磁流变液流通的抛光液循环管路外。针对目前采用的磁流变液水分控制方法灵敏度低、受环境影响大且实施不便等问题，本发明提出的铁粉浓度检测装置，利用互感原理，将磁流变液铁粉浓度的变化转变为差分电信号的变化，经分析处理将代表了铁粉浓度的电信号转换为水分含量，提高了检测灵敏度和稳定性，实现对磁流变液水分实时在线检测。
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公开(公告)号：CN110842652A
公开(公告)日：2020-02-28
申请号：CN201910999471.0
申请日：2019-10-21
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: B24B1/00
Abstract: 本发明公开了一种确定性光学抛光技术驻留时间求解方法，本发明的方法利用机床速度、加速度性能参数构建双边约束求解确定性抛光技术驻留时间，解决了目前确定性光学抛光技术驻留时间求解与机床速度、加速度性能参数的不匹配的问题，具有简单易用、计算效率高、鲁棒性好等优点，提高了抛光工艺过程控制的准确性和可靠性。
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公开(公告)号：CN110064997A
公开(公告)日：2019-07-30
申请号：CN201910488077.0
申请日：2019-06-05
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本发明公开了用于薄壁异形曲面的磁致固态流变效应抛光装置及方法，包括抛光轮、能够带动所述抛光轮转动的公转轴，还包括能够带动所述抛光轮转动的自转轴，所述自转轴与公转轴的轴线相互垂直，所述抛光轮内部中空，抛光轮外表面包覆磁流变弹性体，抛光轮自转轴上设置相对位置可调的永磁铁；还包括用于喷出抛光液的供液管道，抛光液喷射在磁流变弹性体与被加工工件之间。本发明的目的在于提供用于薄壁异形曲面的磁致固态流变效应抛光装置及方法，以解决现有技术中磁流变抛光技术无法应用于薄壁异形曲面的高精度抛光领域的问题，实现将磁流变抛光技术有效应用到光学元件薄壁异形曲面抛光中的目的。
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公开(公告)号：CN112857238B
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202110410048.X
申请日：2021-04-16
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开了一种大口径平行平晶厚度分布的干涉测量方法，包括测量待测平晶的a面面形数据和b面面形数据；将测量得到的a面面形数据进行左右镜像处理，并将处理后的面形数据进行Zernike多项式拟合处理，得到a面面形数据的拟合多项式；将测量得到的b面面形数据进行多项式拟合处理，得到b面面形数据的拟合多项式；提取得到待测平晶a面的装调误差，对a面的装调误差镜像取反则为待测平晶b面的装调误差；将拟合多项式减去装调误差，得到待测平晶的像差；从而得到待测平晶厚度均匀性的误差分布。本发明能够实现大型光学元件的厚度分布检测，从而为后续超精密加工修行提供技术支撑。
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公开(公告)号：CN114310644A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202210066348.5
申请日：2022-01-20
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: B24B31/112 , B24B1/00 , B24B57/00
Abstract: 本发明公开了一种通电线圈式磁流变抛光液回收器及装置，涉及抛光加工技术领域，其技术方案要点是：包括流道以及与流道套装的回收壳体，回收壳体的侧面设有引流口，所述回收壳体内环设有一端开口的狭缝空腔，回收壳体内封装有漆包线圈；所述回收壳体为磁导材料；所述漆包线圈通电后使狭缝空腔内外两侧的壳体壁形成磁性相反的磁极，以在狭缝空腔处形成漏磁场。本发明在不需要屏蔽层的情况下可以在狭缝空腔处形成漏磁场，同时可实现磁场强度的灵活调整，降低抛光液对抛光轮的磨损，避免抛光液硬化，拆卸后回收器无磁场，磁流变抛光液不会附着于回收器，便于清洗。
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