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公开(公告)号:CN118777418A
公开(公告)日:2024-10-15
申请号:CN202411007859.5
申请日:2024-07-25
Applicant: 中国兵器装备集团西南技术工程研究所
IPC: G01N27/90 , G01N27/9013
Abstract: 本发明公开了一种在线检测圆锥滚子缺陷的无损检测系统,包括涡流检测探头,涡流检测探头连接涡流检测主机,将若干个并排布置的涡流检测探头作为圆锥滚子的工件输送槽底壁,由工件输送槽底壁和两个挡板共同构成工件输送槽,工件输送槽宽度不小于圆锥滚子长度,工件输送槽底壁的顶面斜度与圆锥滚子的锥面斜度一致,以使圆锥滚子在滚动过程中能够始终贴靠工件输送槽底壁。本发明提供的无损检测系统结构简单、配套设施成本低,在无需使用精密执行机构的情况下就能够对小型圆锥滚子表层缺陷进行检测,更关键的是能够在线进行圆锥滚子表层缺陷的高效检测。
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公开(公告)号:CN117451759A
公开(公告)日:2024-01-26
申请号:CN202311367079.7
申请日:2023-10-20
Applicant: 中国兵器装备集团西南技术工程研究所 , 北京科技大学
IPC: G01N23/207 , G01N23/20008 , G01L5/00 , G01L1/25
Abstract: 本发明提供了一种短波长特征X射线衍射近表层残余应力无损检测装置及无损检测近表层残余应力的方法。入射X射线、衍射X射线分别由入射准直器和接收准直器准直,射线均为平行光,光束截面均为矩形,沿样品厚度运动的轴定位精度高;该方法步骤包括:测试无应力粉末标样从表面到内部不同部位的衍射峰,记i部位的衍射峰Pi;以无应力粉末标样内部衍射峰定峰平均值Pavg为基准,依据公式mi=Pi/Pavg计算无应力粉末标样由表面到内部i部位的衍射峰虚假偏移校正因子mi;基于衍射峰虚假偏移校正因子mi,校正得到试样衍射峰P’i试样和无应力参考样品衍射峰P’i无应力参考样品;计算近表层残余应力。采用本发明方案能够实现材料/工件近表层残余应力的无损检测分析。
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公开(公告)号:CN117405711A
公开(公告)日:2024-01-16
申请号:CN202311359271.1
申请日:2023-10-19
Applicant: 中国兵器装备集团西南技术工程研究所
IPC: G01N23/20 , G01N23/20008
Abstract: 本发明提供了一种短波长特征X射线衍射近表层残余应力测试的样品表面定位方法,其特征在于:当样品沿厚度分布的织构均匀且对沿厚度分布的衍射强度影响能够忽略时,通过拟合衍射体积逐渐被样品填满时衍射强度变化的曲线,实现样品表面的精确定位;或者,当样品沿厚度分布的织构不均匀时,利用紧密贴合在样品表面的薄片实现样品表面的精确定位。本发明提供的方案不仅具有定位精度高、定位操作简单、操作难度小的优点,而且能够快速实现材料/工件近表层残余应力测试时的表面精确定位,尤其适用于沿厚度分布的织构不均匀的材料/工件,解决内部织构沿厚度分布不均匀材料表面定位难的问题。
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