公开(公告)号：CN115901935A

公开(公告)日：2023-04-04

申请号：CN202211379300.6

申请日：2022-11-04

Applicant: 中国兵器装备集团西南技术工程研究所

Inventor： 王成章 ,  杨小奎 ,  窦世涛 ,  舒畅 ,  朱玉琴 ,  王晓辉 ,  封先河 ,  胡广洋 ,  赵方超 ,  黄波 ,  李佳蒙

IPC: G01N27/90

Abstract: 本发明提供了一种基于磁场探测技术的涂层下金属基体损伤评估方法及系统，利用涡流激励和磁场探测系统获取涂层下金属基体的磁场强度分布图像，根据所得磁场强度分布图像特征确定金属基体的损伤程度，评估涂层下金属基体损伤程度并进行分级，并给出评估结果；涡流激励磁场系统包括多频涡流激励信号发生器、激励线圈、磁场数据采集器、线性阵列磁场检测传感器和数据处理模块与显示器，线性阵列磁场检测传感器固定连接激励线圈并位于激励线圈内；采用本发明的方案，不仅能够定量地给出涂层下金属基体的损伤程度，而且能够给出金属基体各深度区间的损伤评级，提高了涂层金属基体损伤评估的准确性，具有无损、高效、便捷的优势。

公开(公告)号：CN115901934A

公开(公告)日：2023-04-04

申请号：CN202211379298.2

申请日：2022-11-04

Applicant: 中国兵器装备集团西南技术工程研究所

Inventor： 窦世涛 ,  赵方超 ,  胡广洋 ,  黄波 ,  何建新 ,  封先河 ,  王成章 ,  朱玉琴 ,  陈新 ,  李佳蒙

IPC: G01N27/90

Abstract: 本发明提供了基于二维阵列磁场传感器的涂层下金属基体损伤检测装置及其操作方法，包括在被测部位设置有多个磁场检测传感器，在磁场检测传感器外布置激励线圈，由所有磁场检测传感器共同构成二维阵列磁场传感单元；根据被测部位面积确定需要放置的磁场检测传感器数量，并在被测部位正上方的非金属基板的孔内放置磁场检测传感器，确保所有磁场检测传感器的有效探测面能够完全覆盖被测部位，设定好多频涡流激励信号发生器的激励信号频率。本发明能长时间获取被测件不同激励频率下的磁场数据图像，便于在不同低激励频率下一次性获取大面积被测部位的损伤数据图像，不仅大幅降低了操作难度、简化了操作步骤，同时能够提高检测效率和检测范围。

公开(公告)号：CN118777418A

公开(公告)日：2024-10-15

申请号：CN202411007859.5

申请日：2024-07-25

Applicant: 中国兵器装备集团西南技术工程研究所

Inventor： 赵方超 ,  窦世涛 ,  黄伦 ,  舒畅 ,  陈新 ,  罗杰 ,  王莞 ,  陈明亚

IPC: G01N27/90 ,  G01N27/9013

Abstract: 本发明公开了一种在线检测圆锥滚子缺陷的无损检测系统，包括涡流检测探头，涡流检测探头连接涡流检测主机，将若干个并排布置的涡流检测探头作为圆锥滚子的工件输送槽底壁，由工件输送槽底壁和两个挡板共同构成工件输送槽，工件输送槽宽度不小于圆锥滚子长度，工件输送槽底壁的顶面斜度与圆锥滚子的锥面斜度一致，以使圆锥滚子在滚动过程中能够始终贴靠工件输送槽底壁。本发明提供的无损检测系统结构简单、配套设施成本低，在无需使用精密执行机构的情况下就能够对小型圆锥滚子表层缺陷进行检测，更关键的是能够在线进行圆锥滚子表层缺陷的高效检测。

公开(公告)号：CN117451759A

公开(公告)日：2024-01-26

申请号：CN202311367079.7

申请日：2023-10-20

Applicant: 中国兵器装备集团西南技术工程研究所 ,  北京科技大学

Inventor： 窦世涛 ,  郑林 ,  张津 ,  计鹏飞 ,  赵方超 ,  陈新 ,  周堃 ,  车路长 ,  吴林阳 ,  刘聪 ,  罗杰 ,  王辉

IPC: G01N23/207 ,  G01N23/20008 ,  G01L5/00 ,  G01L1/25

Abstract: 本发明提供了一种短波长特征X射线衍射近表层残余应力无损检测装置及无损检测近表层残余应力的方法。入射X射线、衍射X射线分别由入射准直器和接收准直器准直，射线均为平行光，光束截面均为矩形，沿样品厚度运动的轴定位精度高；该方法步骤包括：测试无应力粉末标样从表面到内部不同部位的衍射峰，记i部位的衍射峰Pi；以无应力粉末标样内部衍射峰定峰平均值Pavg为基准，依据公式mi＝Pi/Pavg计算无应力粉末标样由表面到内部i部位的衍射峰虚假偏移校正因子mi；基于衍射峰虚假偏移校正因子mi，校正得到试样衍射峰P’i试样和无应力参考样品衍射峰P’i无应力参考样品；计算近表层残余应力。采用本发明方案能够实现材料/工件近表层残余应力的无损检测分析。

公开(公告)号：CN117405711A

公开(公告)日：2024-01-16

申请号：CN202311359271.1

申请日：2023-10-19

Applicant: 中国兵器装备集团西南技术工程研究所

Inventor： 窦世涛 ,  郑林 ,  赵方超 ,  陈新 ,  周堃 ,  罗杰 ,  车路长 ,  张伦武 ,  刘聪 ,  王长朋 ,  张薇

IPC: G01N23/20 ,  G01N23/20008

Abstract: 本发明提供了一种短波长特征X射线衍射近表层残余应力测试的样品表面定位方法，其特征在于：当样品沿厚度分布的织构均匀且对沿厚度分布的衍射强度影响能够忽略时，通过拟合衍射体积逐渐被样品填满时衍射强度变化的曲线，实现样品表面的精确定位；或者，当样品沿厚度分布的织构不均匀时，利用紧密贴合在样品表面的薄片实现样品表面的精确定位。本发明提供的方案不仅具有定位精度高、定位操作简单、操作难度小的优点，而且能够快速实现材料/工件近表层残余应力测试时的表面精确定位，尤其适用于沿厚度分布的织构不均匀的材料/工件，解决内部织构沿厚度分布不均匀材料表面定位难的问题。

公开(公告)号：CN115856071A

公开(公告)日：2023-03-28

申请号：CN202211379303.X

申请日：2022-11-04

Applicant: 中国兵器装备集团西南技术工程研究所

Inventor： 李佳蒙 ,  窦世涛 ,  赵方超 ,  封先河 ,  周堃 ,  王晓辉 ,  王成章 ,  何建新 ,  陈新

IPC: G01N27/90

Abstract: 本发明提供了基于多频涡流激励与磁场探测的涂层下金属基体损伤检测装置及检测方法，包括多频涡流激励信号发生器、激励线圈、磁场数据采集器、线性阵列磁场检测传感器和数据处理模块与显示器，线性阵列磁场检测传感器位于激励线圈内；检测方法包括选择频率档位进行检测，获取多个激励频率下的磁场数据，对所有频率下扫描所得磁场数据图进行三维重构，得到被测部位的三维图像，并对图像中显示的损伤进行分析。本发明通过一次扫描即可获取多个激励频率下的损伤数据，能够在不去除金属材料表面有机涂层或较薄金属覆盖层的情况下，实现金属基体裂纹、腐蚀等损伤的无损检测分析，具有检测效率高的优势。